原文由 刘彦刚(pxsjlslyg) 发表:初次接触分光仪,使用的是UV-8000系列的双光束分光仪。现在是想测定不同厚度下的石蜡的透光率,可多次测量的实验数据都不理想,可能是我的操作出了问题。以下是我的操作过程:开机(此时光路中不放任何东西)进行系统校刻,进行满刻度校刻,在光路中放入装有石蜡的比色皿,然后进行全波长扫描。现在遇到的问题有,1.厚度越大的比色皿反而透过率越高 2.空比色皿的透过率要比装有石蜡的比色皿要低我觉得应该是我的操作出现了问题,请各位大神帮帮忙,指点一二,感谢。 你好!因为对你的专业太陌生。你说的石蜡,是石蜡油吗,还是?从“现在是想测定不同厚度下的石蜡的透光率”好像是固体,从“在光路中放入装有石蜡的比色皿”又好像是液体。 再者,你真的是要全波长,各处的透射比,还是? 没搞清楚这些,有可能瞎说哦!你好,我所用的石蜡是正16烷,在常温下是液态。有考虑在测完液态16烷后使用水浴法降温至固态,再测固态的数据。
原文由 百者一(Ins_c21a4ceb) 发表:
你好,我所用的石蜡是正16烷,在常温下是液态。有考虑在测完液态16烷后使用水浴法降温至固态,再测固态的数据。
原文由 刘彦刚(pxsjlslyg) 发表:老师您好,我想测的是纯液态的16烷在常温下的透过率,再测量相变完成后也就是纯固态的16烷的透过率,分别用不同厚度的比色皿测量三次,然后用双厚度法求解光学常数。
好像我有些能感觉到,你是这样做:常温下将液态的被测物装入比色皿,使用水浴法降温至固态。但一定要注意在这由液转固的过程中,能均质转换吗?不会产生空洞等不均质吧?
再就是你的检测过程,好像是有些不恰当的:
开机(此时光路中不放任何东西)进行系统校刻,进行满刻度校刻,
在光路中放入装有石蜡的比色皿,然后进行全波长扫描。
在这里,被测物是固体“光路中不放任何东西”是对的,即以空气为参比。但按后的“在光路中放入装有石蜡的比色皿”就不恰当了,因为我们约定的透射比为100%中并没有此时在光路上的比色皿的两壁,为表述方便起见,此时我一种说法,即:不说透射比,而说吸光度,你应该能接受吧?再让我们回到主题,此时我们得到的吸光度是两壁层加比色皿中,与由比色皿决一的被测物厚度的吸光度。这当然不是你心目中所要求的固态的数据。你说是吗?
原文由 百者一(Ins_c21a4ceb) 发表:
老师您好,我想测的是纯液态的16烷在常温下的透过率,再测量相变完成后也就是纯固态的16烷的透过率,分别用不同厚度的比色皿测量三次,然后用双厚度法求解光学常数。
老师的意思是不能用空气参比对吗,我现在就是搞不清楚不用空气参比用纯水作为参比怎么操作,因为这个机子不是有两个光路吗,另一个光路我就不知道怎么用一直没放过东西。还请老师指教一下,如果我在比色皿中放入纯水作为参比,我应该怎么操作。
另外我不知道那个拍砖是踩,实在对不起,点了一下试了试,嘿嘿