主题:【讨论】钢铁分析中 Al 和 Mo 的干扰。

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xuejibin
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虽然不在同一方法中,但是我发现 牌号T91 的合金钢板的测量 铝受到其中钼的干扰。

用的396.152nm 波长测量铝。含量高于 0.1% ; 手工铬天箐测量才0.04%

然后自己配制溶液的含量Al相同的,用加钼和不加钼的两份测量发现,数值有变化。但是不知道钼是怎么干扰。也不知道怎么消除钼的干扰。求教大家了。



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shaweinan
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  你同时用396.152nm和309.271nm测一下看看结果怎样, 如果出现的误差相近那很可能就是进样过程的问题,对于ICP原子发射光谱来说是气化过程和原子化过程问题的可能性极小,如果309.271nm可以测准那可以肯定396.152nm存在谱线干扰。
  顺便问一下你溶液中Al和Mo的浓度分别是多大?
xuejibin
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楼下测电火花直读的告诉我含量在0.04%(质量百分比)  钼 2%

我居然测出铝0.1% (0.002mg/ml)  没测钼



shaweinan
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原文由 xuejibin 发表:
  楼下测电火花直读的告诉我含量在0.04%(质量百分比)钼 2%。

  我居然测出铝0.1% (0.002mg/ml)  没测钼。


  火花发射测出的结果也不一定就准确,因为火花在定量分析时基体干扰要比ICP严重,需要采用标准品的基体匹配。所以没有必要一定就相信他们做的结果。再者说了,火花测的是固体样品,ICP测的是液体样品,所以说ICP还存在样品的处理过程,这些因素都必须考虑。
ningxia2008
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xuejibin
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对不起, 是我的问题,每说清楚。 

我做的是 ASTM标准 P91 标号 k91560
(质量百分比含量)

Mo 0.85~1.05  Al<=0.040        Nb: 0.06~0.10  C 0.08~0.12 
Mn 0.30~0.60  V 0.18~0.25    N  0.03~0.07    Ni <=0.40
P〈=0.020      S〈=0.10

我手工  铬天青 测量的酸性铝  在 0.036  ICP测量结果0.1 

下午换309 试试 , 样品送钢院测N去了。 顺便问问他们。

换表样没事, 加了Mo铝就不准了。 最近积压的工作太多了, 没时间自己测了,希望几天不用再加班了。
云☆飘☆逸
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好象没有你想的那么复杂吧.你扣背景了吗,如果你认为干扰很大,配2者的纯溶液打下干扰系数,我感觉好象没有你想的那么夸张.另外我想告诉你,对低含量的AL.光度法不一定很准确的.AL的光度法的曲线都不太好,稳定性比较差
shaweinan
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原文由 xuejibin 发表:
  对不起, 是我的问题,每说清楚。 

  我做的是 ASTM标准 P91 标号 k91560(质量百分比含量)

  Mo 0.85~1.05  Al<=0.040      Nb: 0.06~0.10  C 0.08~0.12 
  Mn 0.30~0.60  V 0.18~0.25    N  0.03~0.07    Ni <=0.40
  P〈=0.020      S〈=0.10

  我手工用铬天青测量的酸性铝在0.036 ICP测量结果为0.1 

  下午换309试试,样品送钢院测N去了。顺便问问他们。

  换标样没事,加了Mo铝就不准了。最近积压的工作太多了,没时间自己测了,希望几天不用再加班了。


  看来你是用396.152nm谱线测的,不知你用的是什么仪器,是端视观测还是侧视观测?在Al的396.152nm这条原子线附近有一条Mo的离子线,波长也是396.152nm。很不幸如果用Al的309.271nm的原子线进行测定,它实际上很可能用的是双线,因为Al在此还有一条波长为309.284nm的谱线,同时Mo在此也有一条谱线,波长是309.209nm,它也是离子线。由于两条干扰线的强度都比较大而且在你样品中Mo的含量是Al的20多倍,所以很可能会产生谱线重叠干扰,从而使结果增大。
  考察的办法你可以分别配置Al和Mo的单标溶液,浓度和样品完全一样,然后分别在Al的396.152nm和309.271nm处比较Al和Mo谱线强度的相对大小,就可以验证我的说法。
xuejibin
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我用的是国产的。当然,不准只能靠自己了。单扫, 侧视。







有几个问题,

1.做 W 的分析时,用磷酸和硫酸溶解样品。进样速度慢会影响测量准确么?
  如果做钨基合金分析有什么要注意的,前几天一个开关材料是W 和Cu的,W占80% 我没敢作。


2.治样时用磷酸时,系统内的磷残留怎么办。

3.铜合金内含磷,我用的仪器178.221 不能用。
  只能用214.914nm  会不会有问题。
shaweinan
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原文由 xuejibin 发表:
  我用的是国产的。当然,不准只能靠自己了。单扫,侧视。

有几个问题,

 1、做W的分析时,用磷酸和硫酸溶解样品。进样速度慢会影响测量准确么?
  如果做钨基合金分析有什么要注意的,前几天一个开关材料是W 和Cu的,W占80% 我没敢作。

 2、制样用磷酸时,系统内的磷残留怎么办。

 3、铜合金内含磷,我用的仪器178.221nm不能用。只能用214.914nm会不会有问题。


  对于第一个问题,因为磷酸和硫酸的黏度和表面张力都比较大,所以肯定会影响进样过程,但只要你在最后测定时使标准溶液中磷酸和硫酸浓度与样品的一致,就不会对分析结果产生太大的影响。
  用磷酸制样,最后应该将磷酸基本赶走。
  测磷时仪器不能使用178.221nm 谱线,用214.914nm的谱线进行测定只是灵敏度不同,检测能力有所差异,但如果你样品中磷的含量不是很低的话,就不会影响准确性。
xuejibin
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MnO+SiO2        CaF2+CaO        Al2O3+MgO        S        P
74~82        10~14        9~12        ≤0.06        ≤0.08

如何分析其中含磷和硫 ?
如何制样?

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