原文由 tcduan 发表:原文由 zhckj 发表:
在仪器的操作手册上说,在调谐时,如果调节了采样深度就得调节炬的水平垂直位置,为什么?问了工程师,开始他说不可能有这句话,后来看到了,也不清楚,说可能是调节采样深度的时候产生震动,所以需要再调节炬的水平垂直位置再次对准锥口,但是感觉说法不具有说服力,请问各位有更加恰当的解释吗?
我的理解是:ICP焰在采样锥口形成一个圆锥分布,而采样锥孔不可能被严格控制在ICP焰中心线,因此当采样深度发生变化时,锥孔在圆锥空间的水平以及垂直方向均会发生相对于先前位置的微小位移.
原文由 tcduan 发表:原文由 zhckj 发表:
在仪器的操作手册上说,在调谐时,如果调节了采样深度就得调节炬的水平垂直位置,为什么?问了工程师,开始他说不可能有这句话,后来看到了,也不清楚,说可能是调节采样深度的时候产生震动,所以需要再调节炬的水平垂直位置再次对准锥口,但是感觉说法不具有说服力,请问各位有更加恰当的解释吗?
我的理解是:ICP焰在采样锥口形成一个圆锥分布,而采样锥孔不可能被严格控制在ICP焰中心线,因此当采样深度发生变化时,锥孔在圆锥空间的水平以及垂直方向均会发生相对于先前位置的微小位移.
原文由 zhengxxx 发表:原文由 tcduan 发表:原文由 zhckj 发表:
在仪器的操作手册上说,在调谐时,如果调节了采样深度就得调节炬的水平垂直位置,为什么?问了工程师,开始他说不可能有这句话,后来看到了,也不清楚,说可能是调节采样深度的时候产生震动,所以需要再调节炬的水平垂直位置再次对准锥口,但是感觉说法不具有说服力,请问各位有更加恰当的解释吗?
我的理解是:ICP焰在采样锥口形成一个圆锥分布,而采样锥孔不可能被严格控制在ICP焰中心线,因此当采样深度发生变化时,锥孔在圆锥空间的水平以及垂直方向均会发生相对于先前位置的微小位移.
有时候还需要反复调节这三个参数,才能找到最佳条件