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主题：【求助】看看高分辨的欠焦状态

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Jin
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发表于：2008/08/27 19:05:36 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊



这个图片处在正交还是欠焦？
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2008/8/27 20:01:43 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
以非晶边缘为准，稍微欠了一点。难道这个就是你看到0.14nm细节的图片？
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2008/8/27 21:38:39 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 drizzlemiao 发表:
以非晶边缘为准，稍微欠了一点。难道这个就是你看到0.14nm细节的图片？


这个显然是看不出来的
0.14 nm 那个是觉得像所以问问有没有可能
还在模拟之中

如果我要模拟这张图片样品区域的高分辨
模拟使用的欠焦量有没有可能是正的（过焦）呢？
感觉我模拟的时候要用＋35 nm 的过焦，同时样品区域厚度在10 － 40 nm （有梯度）才对的比较好。
不知道合理不？
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2008/8/27 21:43:46 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
说不准。单张照片通常是不能最为判据的，模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且，我觉得你的样品好象取向不正。
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2008/8/27 21:49:15 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 drizzlemiao 发表:
说不准。单张照片通常是不能最为判据的，模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且，我觉得你的样品好象取向不正。


带轴已经算是比较正了
不过因为纳米样品，局域可能有些应力，可能是有点不正（局域）
同时从里到外，厚度变小，高分辨的图像也有些不同。
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2008/8/27 21:55:24 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 drizzlemiao 发表:
说不准。单张照片通常是不能最为判据的，模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且，我觉得你的样品好象取向不正。


对了
我首先模拟了一套高分辨像
分别按照df和t排列出了全部的模拟像
根据这个照片上不同位置的实验像去对了一下
发现只有在＋35 nm 过焦下才比较可能
而且厚度的分布也比较符合，外面薄，里面厚。
另外因为样品不是特别的耐辐照，所以般都没有系列欠焦，而只是把样品（含界面）拍清楚就没有再拍了
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iamikaruk
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2008/8/27 22:36:12 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
过焦是有可能的，碳膜处于略微欠焦，如果样品是在碳膜上方，考虑样品厚度，的确是处于过焦位置。
支持系列欠焦，要不然很多东西说不清
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2008/8/27 23:55:03 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
那个非晶边缘象是样品本身的，不象碳膜，不过非晶区和晶区的厚度仍然可能有差别造成欠焦状态不同。另一个造成欠焦状态不同的原因是样品倾转。
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zdlkkk
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2008/8/28 6:09:16 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
不知道材料的结构，图上也没有标尺，但是从fft上看到的这样的焦距可很象是不合格的啊。样品太厚了。
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2008/8/29 0:50:04 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zdlkkk 发表:
不知道材料的结构，图上也没有标尺，但是从fft上看到的这样的焦距可很象是不合格的啊。样品太厚了。


我个人觉得样品不厚
这个焦距主要是为了使界面处离位效应减弱
比较清楚
完整区域的聚焦状态可能是不一定很好
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2008/8/29 1:48:30 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
哦，原来是这样啊。
有个问题不明白，为什么物镜的强度可以影响某些区域的离位效应呢？
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