主题:【求助】看看高分辨的欠焦状态

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Jin
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这个图片处在正交还是欠焦?
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蓝莓口香糖
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以非晶边缘为准,稍微欠了一点。难道这个就是你看到0.14nm细节的图片?
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Last edit by drizzlemiao
Jin
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原文由 drizzlemiao 发表:
以非晶边缘为准,稍微欠了一点。难道这个就是你看到0.14nm细节的图片?


这个显然是看不出来的
0.14 nm 那个是觉得像所以问问有没有可能
还在模拟之中

如果我要模拟这张图片样品区域的高分辨
模拟使用的欠焦量有没有可能是正的(过焦)呢?
感觉我模拟的时候要用+35 nm 的过焦,同时样品区域厚度在10 - 40 nm (有梯度)才对的比较好。
不知道合理不?
蓝莓口香糖
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说不准。单张照片通常是不能最为判据的,模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且,我觉得你的样品好象取向不正。
Jin
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原文由 drizzlemiao 发表:
说不准。单张照片通常是不能最为判据的,模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且,我觉得你的样品好象取向不正。


带轴已经算是比较正了
不过因为纳米样品,局域可能有些应力,可能是有点不正(局域)
同时从里到外,厚度变小,高分辨的图像也有些不同。
Jin
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原文由 drizzlemiao 发表:
说不准。单张照片通常是不能最为判据的,模拟结果需要跟系列欠焦像做比较。而且,我觉得你的样品好象取向不正。


对了
我首先模拟了一套高分辨像
分别按照df和t排列出了全部的模拟像
根据这个照片上不同位置的实验像去对了一下
发现只有在+35 nm 过焦下才比较可能
而且厚度的分布也比较符合,外面薄,里面厚。
另外因为样品不是特别的耐辐照,所以般都没有系列欠焦,而只是把样品(含界面)拍清楚就没有再拍了
iamikaruk
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过焦是有可能的,碳膜处于略微欠焦,如果样品是在碳膜上方,考虑样品厚度,的确是处于过焦位置。
支持系列欠焦,要不然很多东西说不清
蓝莓口香糖
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那个非晶边缘象是样品本身的,不象碳膜,不过非晶区和晶区的厚度仍然可能有差别造成欠焦状态不同。另一个造成欠焦状态不同的原因是样品倾转。
zdlkkk
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不知道材料的结构,图上也没有标尺,但是从fft上看到的这样的焦距可很象是不合格的啊。样品太厚了。
Jin
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原文由 zdlkkk 发表:
不知道材料的结构,图上也没有标尺,但是从fft上看到的这样的焦距可很象是不合格的啊。样品太厚了。


我个人觉得样品不厚
这个焦距主要是为了使界面处离位效应减弱
比较清楚
完整区域的聚焦状态可能是不一定很好
zdlkkk
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哦,原来是这样啊。
有个问题不明白,为什么物镜的强度可以影响某些区域的离位效应呢?
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