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ID:sartre
行业:其他
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ID:tianzhen
原文由 tianzhen 发表:资料不错,但不同探测器的分辨率还与其前端的铍窗厚度有很大的关系;现在SDD已经用于TEM上了,并不只在SEM上用。
ID:atlas
ID:looaoo
原文由 tianzhen 发表:现在SDD用于TEM和EDX都有成熟的产品了,但用于TEM据我所知只有一家,用于XRF有好几家,但从目前来说名有优势,锂漂移和硅漂移各有优势,但后者用于TEM上听说也能到115EV了,但我没用过.
原文由 atlas 发表:资料不错,刚好要选择不同分辨率的X光仪,不过是用于测镀层厚度的,配SDD与配PIN的价格差不少!
原文由 looaoo 发表:不错,正找那
原文由 sartre 发表:原文由 tianzhen 发表:现在SDD用于TEM和EDX都有成熟的产品了,但用于TEM据我所知只有一家,用于XRF有好几家,但从目前来说名有优势,锂漂移和硅漂移各有优势,但后者用于TEM上听说也能到115EV了,但我没用过.现在是很多家的EDS和XRF都用SDD了,但是存在问题你看这个图,在10kev后,SDD损失了很多的特征X射线。但是Si(Li)损失的少,在32kev后,还有60%的效率。你说的115ev是什么意思?