主题：【讨论】写个探测器的对照表吧

原文由 sartre 发表:

原文由 atlas 发表:
资料不错,刚好要选择不同分辨率的X光仪,不过是用于测镀层厚度的,配SDD与配PIN的价格差不少!

PIN的只用在低端上，价格确实便宜
但是分辨率260ev
测厚仪，PIN的能测多厚？几层？
Si(Li)的能测几十nm，测六层。。。

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资料不错,刚好要选择不同分辨率的X光仪,不过是用于测镀层厚度的,配SDD与配PIN的价格差不少!

PIN的只用在低端上，价格确实便宜
但是分辨率260ev
测厚仪，PIN的能测多厚？几层？
Si(Li)的能测几十nm，测六层。。。

对X光测厚仪来说,PIN探测器还属于中档的,测厚度的层数还与测试中的处理软件有关,测24层或30层的都有!
从分辨率讲,proportional counter≤950eV，PIN ≤290eV,Si(Li)≤165eV,SDD≤185eV.

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原文由 atlas 发表:
资料不错,刚好要选择不同分辨率的X光仪,不过是用于测镀层厚度的,配SDD与配PIN的价格差不少!

PIN的只用在低端上，价格确实便宜
但是分辨率260ev
测厚仪，PIN的能测多厚？几层？
Si(Li)的能测几十nm，测六层。。。

对X光测厚仪来说,PIN探测器还属于中档的,测厚度的层数还与测试中的处理软件有关,测24层或30层的都有!
从分辨率讲,proportional counter≤950eV，PIN ≤290eV,Si(Li)≤165eV,SDD≤185eV.

原文由 atlas 发表:
一般情况下,镀层四五层足够了!能测的最薄的镀层厚度可达25纳米以下!

原文由 atlas 发表:
PIN探测器当然不能测量这样的超薄镀层!

先镀铜再镀镍的镀层用PIN测量很困难吗?请联系THERMOFISCHER的GXR/S测厚仪试一试.

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PIN探测器当然不能测量这样的超薄镀层!

先镀铜再镀镍的镀层用PIN测量很困难吗?请联系THERMOFISCHER的GXR/S测厚仪试一试.

呃。。。
你说的仪器是PIN探测器的？

原文由 sartre 发表:

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一般情况下,镀层四五层足够了!能测的最薄的镀层厚度可达25纳米以下!

呃。。。
用PIN的探测器能做出这个来？
我有个问题，用PIN的探测器，第一层是Cu，第二层是Ni，能测嘛？

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原文由 atlas 发表:
PIN探测器当然不能测量这样的超薄镀层!

先镀铜再镀镍的镀层用PIN测量很困难吗?请联系THERMOFISCHER的GXR/S测厚仪试一试.

呃。。。
你说的仪器是PIN探测器的？

然也!