原文由 tutm 发表:
你说的两种应该都有光栅分光,普通我们常用的是光栅转动型,只用一个光电检测器。这种已经技术非常成熟,从性能指标看,低中高档的全有。
一般都是样品前就分光的,单色光照射样品,可以防止一些样品的荧光干扰。
照射到样品上的光斑大多是矩形的,数毫米见方,测试面积较大。
波段扫描速度较慢,但光束的单色性可以做得很好,如0.1-0.2nm。
用PDA或CCD做光电检测的,一般光栅是固定的。这种分光光度计正在发展中,从技术性能看,大多属低中档型。
一般都是在样品后分光,全色光照射样品,这样就可能引起一些样品的荧光干扰。
在样品上采集光的区域面积一般都较小,可能只有1mm,否则难以聚焦到微小的感光元件点阵上。这样有时会有使用上的限制。
扫描速度极快,但带宽难以做得很小。
就谈这些,请其它版友提提。
原文由 tutm 发表:
你说的两种应该都有光栅分光,普通我们常用的是光栅转动型,只用一个光电检测器。这种已经技术非常成熟,从性能指标看,低中高档的全有。
一般都是样品前就分光的,单色光照射样品,可以防止一些样品的荧光干扰。
照射到样品上的光斑大多是矩形的,数毫米见方,测试面积较大。
波段扫描速度较慢,但光束的单色性可以做得很好,如0.1-0.2nm。
用PDA或CCD做光电检测的,一般光栅是固定的。这种分光光度计正在发展中,从技术性能看,大多属低中档型。
一般都是在样品后分光,全色光照射样品,这样就可能引起一些样品的荧光干扰。
在样品上采集光的区域面积一般都较小,可能只有1mm,否则难以聚焦到微小的感光元件点阵上。这样有时会有使用上的限制。
扫描速度极快,但带宽难以做得很小。
就谈这些,请其它版友提提。