主题：【求助】所测得的晶面间距的误差上限受何种因素影响？

原文由 henry2008 发表:
蓝莓版主，多谢一直以来的指教，现在感觉心里比较踏实了。前段时间，虽然已经有了XRD结果作为判据，但对HRTEM的结果的分析还是没有十足的把握。这两天，突击学习了本版的精华帖，感觉真的是受益匪浅，谢谢！此外，我还想了解一下获得较高质量的HRTEM像的必须的操作步骤，不知能否推荐再推荐一些资料或链接，这样在下次测样品时就不会太盲目了。我一直认为在观测纳米颗粒时，应该先倾转样品、获得比较对称的衍射斑点或FFT斑点，之后再拍照HRTEM像会获得较高的精度，不知我的理解是否有误？

原文由 drizzlemiao 发表:
这是个操作说明，步骤1－8是高分辨必须的操作。实例恐怕不好找，这就是个实验技术，没有太大讲解的价值。所以大家都是练得多，说得少。
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20070821/951770/

原文由 henry2008 发表:

原文由 drizzlemiao 发表:
这是个操作说明，步骤1－8是高分辨必须的操作。实例恐怕不好找，这就是个实验技术，没有太大讲解的价值。所以大家都是练得多，说得少。
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20070821/951770/

谢谢您的推荐！我会好好学习、体会。另外，我还想再请教一个问题（我的低级问题实在太多了）：在标定晶面的过程中，我先对HRTEM像做FFT图，然后在（0，0）点附近取三个可构成平行四边形的衍射斑点，并量取不同斑点与（0，0）点之间的长度和角度，计算并求得相应的晶面指数和带轴方向（借助了wellee前辈分享的软件，感谢！）。在某些情况下，计算出的晶面不止一种可能（它们的晶面间距和夹角都能与测量值符合得比较好，而且不一定是发生明显X射线衍射的晶面）。如果我想再对它们做更进一步的指认，不知可通过怎样的途径实现？（现在我了解到有可能通过消光点的位置进行辨别，不知是否还有其它的途径？）再次感谢！

原文由 henry2008 发表:

原文由 drizzlemiao 发表:
这是个操作说明，步骤1－8是高分辨必须的操作。实例恐怕不好找，这就是个实验技术，没有太大讲解的价值。所以大家都是练得多，说得少。
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20070821/951770/

谢谢您的推荐！我会好好学习、体会。另外，我还想再请教一个问题（我的低级问题实在太多了）：在标定晶面的过程中，我先对HRTEM像做FFT图，然后在（0，0）点附近取三个可构成平行四边形的衍射斑点，并量取不同斑点与（0，0）点之间的长度和角度，计算并求得相应的晶面指数和带轴方向（借助了wellee前辈分享的软件，感谢！）。在某些情况下，计算出的晶面不止一种可能（它们的晶面间距和夹角都能与测量值符合得比较好，而且不一定是发生明显X射线衍射的晶面）。如果我想再对它们做更进一步的指认，不知可通过怎样的途径实现？（现在我了解到有可能通过消光点的位置进行辨别，不知是否还有其它的途径？）再次感谢！

原文由 drizzlemiao 发表:

原文由 henry2008 发表:

原文由 drizzlemiao 发表:
这是个操作说明，步骤1－8是高分辨必须的操作。实例恐怕不好找，这就是个实验技术，没有太大讲解的价值。所以大家都是练得多，说得少。
http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20070821/951770/

谢谢您的推荐！我会好好学习、体会。另外，我还想再请教一个问题（我的低级问题实在太多了）：在标定晶面的过程中，我先对HRTEM像做FFT图，然后在（0，0）点附近取三个可构成平行四边形的衍射斑点，并量取不同斑点与（0，0）点之间的长度和角度，计算并求得相应的晶面指数和带轴方向（借助了wellee前辈分享的软件，感谢！）。在某些情况下，计算出的晶面不止一种可能（它们的晶面间距和夹角都能与测量值符合得比较好，而且不一定是发生明显X射线衍射的晶面）。如果我想再对它们做更进一步的指认，不知可通过怎样的途径实现？（现在我了解到有可能通过消光点的位置进行辨别，不知是否还有其它的途径？）再次感谢！

如果测量准确，数据没问题，这种情况在高对称性晶体的主要带轴不会出现。对于低对称性晶体，或者非主要带轴，有可能，但是这样的带轴往往是几个离得比较近，或许没必要顶得很准确。