扫描线的校正 四极杆的直流电压(DC)与射频电压(RF)在扫描过程中同时变化,不同的质荷比的离子在这个复合电压下有不同的稳定区域。在这个区域里离子能够顺利通过四极杆,扫描线表示在扫描过程中DC电压与RF电压以恒定的比值变化,DC电压与RF电压比值(扫描线的斜率)决定每个离子的峰宽(分辨率)和峰高(灵敏度),当扫描线a过原点,无论怎样改变斜率,各质量离子(M1,M2)的峰宽和峰高都不一样。如果加上一个DC电压补偿,扫描线b不过原点有一截距,那么整个质量范围内都可以得到相等的峰宽和峰高。调谐程序不断调节DC电压与RF电压比值和DC电压补偿两个参数直到获得满意的分辨率和灵敏度。 为了获得更好的灵敏度,调谐程序会自动调节电子倍增器工作电压。 对安捷伦的仪器来说 Amu gain是直线的斜率,DC电压与RF电压比值。 Amu offset是直线的截距,DC电压补偿。 EM 电子倍增器工作电压.
质量标尺校正 质量测定正确与否取决于质量标尺的准确性。无论那一种质量分析器,根据其质量分离的原理可以计算出对应于扫描电压的质量(计算质量)。由于操作条件的不同,计算质量与实测质量会存在差别,因此在调谐时,需要对质量标尺进行校正,以保证质量测定的准确度。四极质谱的质量和扫描电压是线性关系。由此可获得对于不同电压的计算质量,作为质量标尺。实际上质量标尺受到操作条件和参数变化的影响,实测值和理论值回有偏差,校正的方法就是用已知质量的校正化合物实际测得的质量和计算质量关联获得校正曲线。 Mass gain是直线的斜率 Mass offset是直线的截距。 调节他们以保证正确的质量分配。