原文由 ruhuu 发表:
实际当中,每次测11次空白,得出的SD应该都不一样,即检出限都不一样,同理,方法检出限也不一样。
那么是否每次实验当天作出的SD才代表当天的仪器试剂指标,才能代表当时的检出限?
仪器使用一段时间后,性能有变化,SD发生较大改变,检出限也将变化,有没有方法将多次的检出限做方法学上的处理,得出合理的方法检出限?
这个问题非常好。
确实,不同时间测量,可能得到不同的检出限。如果得到多个不同的检出限值,如果都是合理的,建议以最大的值作为报结果的检出限值。
那是不是检出限就是应该变动的呢?可以说是,也可以说不是。
检出限的测量在很低的水平,比如测11次空白,得到的SD的RSD就很大,也就是说,即使其它条件都一样,本身这个SD值也会有较大的一个离散区间,在这个区间内都可以说是一致的。
但如果其它条件,比如操作员的操作一致性、仪器的灵敏度和稳定性有变化呢?当然这些变化也是允许有一定变动空间的,这些条件变化时,检出限当然也会有变化。但这些条件并不允许有很大的变化,这是这个实验室的质控来控制其变化的范围。比如仪器开机做一个DAIRY PERFORMANCE,看看仪器的灵敏度和精密度,如果在符合要求的范围内则继续做样品等等。通过这些质控手段来保证人员、环境、试剂、方法、仪器在一个可控制的范围内,这样检出限也就会在一个区间内,而不会失控。