原文由 capidien(capidien) 发表:
FACT通过参考曲线的高斯分布来建立干扰模型,而IEC考虑的是干扰物对被测物的干扰因子。
举例来说,假设 As 是被分析谱线 Cd 228 的干扰物。在该情况下,计算公式如下:
IEC 矫正因子 = Cd 灵敏度 (228) * As 在 228 处的强度/As 浓度
IEC 矫正因子测出干扰物对被分析元素信号变化所做的贡献。因此,用来测试 IEC 矫正因子的被测元素和干扰物浓度的高低并不重要,只要在线性动态范围之内。
FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量,用所得到的谱图数据进行图形解析,从而将被分析谱线旁边的干扰谱线分离出去。采用 FACT wizard, 你需要对被分析元素的纯标样、空白和干扰溶液进行测量。一旦你对每个模型的谱图感到满意后,该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。 在以后的分析当中,每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。
原文由 robinzhang(robinzhang) 发表:原文由 capidien(capidien) 发表:
FACT通过参考曲线的高斯分布来建立干扰模型,而IEC考虑的是干扰物对被测物的干扰因子。
举例来说,假设 As 是被分析谱线 Cd 228 的干扰物。在该情况下,计算公式如下:
IEC 矫正因子 = Cd 灵敏度 (228) * As 在 228 处的强度/As 浓度
IEC 矫正因子测出干扰物对被分析元素信号变化所做的贡献。因此,用来测试 IEC 矫正因子的被测元素和干扰物浓度的高低并不重要,只要在线性动态范围之内。
FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量,用所得到的谱图数据进行图形解析,从而将被分析谱线旁边的干扰谱线分离出去。采用 FACT wizard, 你需要对被分析元素的纯标样、空白和干扰溶液进行测量。一旦你对每个模型的谱图感到满意后,该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。 在以后的分析当中,每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。
FACT很难做,因为纯的干扰元素很难制备。
原文由 nick227(nick227) 发表:原文由 robinzhang(robinzhang) 发表:原文由 capidien(capidien) 发表:
FACT通过参考曲线的高斯分布来建立干扰模型,而IEC考虑的是干扰物对被测物的干扰因子。
举例来说,假设 As 是被分析谱线 Cd 228 的干扰物。在该情况下,计算公式如下:
IEC 矫正因子 = Cd 灵敏度 (228) * As 在 228 处的强度/As 浓度
IEC 矫正因子测出干扰物对被分析元素信号变化所做的贡献。因此,用来测试 IEC 矫正因子的被测元素和干扰物浓度的高低并不重要,只要在线性动态范围之内。
FACT 是对被分析元素和干扰元素的标样分别进行测量,用所得到的谱图数据进行图形解析,从而将被分析谱线旁边的干扰谱线分离出去。采用 FACT wizard, 你需要对被分析元素的纯标样、空白和干扰溶液进行测量。一旦你对每个模型的谱图感到满意后,该模型将被储存在方法中。然后可在该模型中测试 FACT 矫正的效果。 在以后的分析当中,每条被测量谱线将依照其所建立的相应的模型对谱图进行解析。由被分析元素所产生的解析峰将参与被分析元素强度的计算。
FACT很难做,因为纯的干扰元素很难制备。
是的 FACT 还不成熟,主要是干扰物的量和具体的物质很难把握。扣除的背景干扰没有具体的理论依据,有待完善!