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主题：【求助】为什么离子源处于高真空下，可忽略正离子同中性碎片的碰撞反应，而形成大于原来分子量的离子？

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zhiruo_1586
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发表于：2009/09/10 17:27:05 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
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这句话什么意思，是什么原理，请高手指教
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2009/9/10 18:27:47 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zhiruo_1586 发表:
这句话什么意思，是什么原理，请高手指教

在EI时，几乎看不到大于分子量质荷比的碎片（有用的碎片中）！至少我没有见过。原因我说不清楚。
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极品懒人
yaoguoting
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2009/9/10 20:15:55 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 zhiruo_1586 发表:
这句话什么意思，是什么原理，请高手指教

质谱仪的离子产生及经过系统必须处于高真空状态（离子源真空度应达1.3×10-4～1.3×10-5Pa，质量分析器中应达1.3×10-6Pa）。其作用是减少离子碰撞损失。
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2009/9/13 21:07:02 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 yaoguoting 发表:
原文由 zhiruo_1586 发表:
这句话什么意思，是什么原理，请高手指教

质谱仪的离子产生及经过系统必须处于高真空状态（离子源真空度应达1.3×10-4～1.3×10-5Pa，质量分析器中应达1.3×10-6Pa）。其作用是减少离子碰撞损失。



支持，书上也是这么说的，系统的真空高的足以忽略所有的分子离子反应，所以，不会形成大于分子量的离子。  参考
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