主题：【讨论】“全谱”这个概念对您意味着什么？

原文由 zsm630113(zsm630113) 发表:
　　玩文字游戏！个人理解：制造商所谓的全谱是指它所能检测到的元素的谱线，而一般人理解的全谱应该是所有元素的谱线。

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:
　1、现在的ICP仪器，即使采用垂直测向观测，因为所用炬管已经比较小了，所以一般除了少数情况外，无须测一种元素改变一个位置；
　2、正式因为现在所谓的全谱仪器可以同时检测的谱线很多，所以采用CCD检测器的可以利用弱线测含量高的强线测含量低的，对于CID检测器因为采取了预曝光，所以根本就不存在什么谱线溢出问题；
　3、中阶梯光栅的分辨率确实存在随着波长的红移而原来越差的情况，但现在的仪器已经可以做到在280nm附近分辨率为0.002nm了，这样即使到了K的灵敏线，分辨率也不会特别差，而且在此光学区域谱线本身就很少；

　　不错我们在进行元素的定量分析时第一个要保证的就是分析结果的准确性，但这并不等于分析速度不重要，当你每天要测数百个样品中多种元素的含量时可能就会体会到其中的真谛了。
　　

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:
　1、现在的ICP仪器，即使采用垂直测向观测，因为所用炬管已经比较小了，所以一般除了少数情况外，无须测一种元素改变一个位置；
　2、正式因为现在所谓的全谱仪器可以同时检测的谱线很多，所以采用CCD检测器的可以利用弱线测含量高的强线测含量低的，对于CID检测器因为采取了预曝光，所以根本就不存在什么谱线溢出问题；
　3、中阶梯光栅的分辨率确实存在随着波长的红移而原来越差的情况，但现在的仪器已经可以做到在280nm附近分辨率为0.002nm了，这样即使到了K的灵敏线，分辨率也不会特别差，而且在此光学区域谱线本身就很少；

　　不错我们在进行元素的定量分析时第一个要保证的就是分析结果的准确性，但这并不等于分析速度不重要，当你每天要测数百个样品中多种元素的含量时可能就会体会到其中的真谛了。
　　

原文由 icp_icp(ICP_ICP) 发表:
　　请问大师，现在哪家的可以做到这样高的分别率了。就我肤浅的知识，0.003左右是极限指标。

原文由 popo(popo) 发表:
呵呵，这个本来就是一个炒作出来的概念。
不过的却如楼上说的，中阶梯光栅到了长波分辨率会变差，比如到了589的时候一般可能会到了0.01-0.03左右了。不过，即使这样，高波长的谱线用的少，所以也就“得过且过”吧，呵呵～～

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:

原文由 andrewguan(andrewguan) 发表:
　　最近在学习ICP，越来越发现全谱直读概念的炒作了，由于中阶梯光栅波长的非恒定性（随波长红移而变化），因此可以推测在长波长处的（比如450nm以后）分辨率较差，因此无法获得正确的谱线，可能双峰被读成单峰，可能干扰线无法分辨。因此连准确的谱都不是何来全谱？

　　继续抛砖引玉。

　　这也正是现在稀土分析行业更喜欢使用JY扫描型仪器而不是在200nm处分辨率为0.006nm的所谓全谱直读仪器的主要原因。

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:

原文由 cat115115(cat115115) 发表:
　　全谱直读的好处：快！可以在一次曝光的时候分析多个元素，而不是一个一个元素来分析的。PE的5000系列及7000系列都是全谱直读的。

　　好象7000系列的未必。

原文由 icp_icp(ICP_ICP) 发表:

　　请问大师，现在哪家的可以做到这样高的分别率了。就我肤浅的知识，0.003左右是极限指标。

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:
　1、现在的ICP仪器，即使采用垂直测向观测，因为所用炬管已经比较小了，所以一般除了少数情况外，无须测一种元素改变一个位置；
　2、正式因为现在所谓的全谱仪器可以同时检测的谱线很多，所以采用CCD检测器的可以利用弱线测含量高的强线测含量低的，对于CID检测器因为采取了预曝光，所以根本就不存在什么谱线溢出问题；
　3、中阶梯光栅的分辨率确实存在随着波长的红移而原来越差的情况，但现在的仪器已经可以做到在280nm附近分辨率为0.002nm了，这样即使到了K的灵敏线，分辨率也不会特别差，而且在此光学区域谱线本身就很少；

　　不错我们在进行元素的定量分析时第一个要保证的就是分析结果的准确性，但这并不等于分析速度不重要，当你每天要测数百个样品中多种元素的含量时可能就会体会到其中的真谛了。
　　

原文由 andrewguan(andrewguan) 发表:

原文由 icp_icp(ICP_ICP) 发表:

　　请问大师，现在哪家的可以做到这样高的分别率了。就我肤浅的知识，0.003左右是极限指标。

原文由 shaweinan(shaweinan) 发表:
　1、现在的ICP仪器，即使采用垂直测向观测，因为所用炬管已经比较小了，所以一般除了少数情况外，无须测一种元素改变一个位置；
　2、正式因为现在所谓的全谱仪器可以同时检测的谱线很多，所以采用CCD检测器的可以利用弱线测含量高的强线测含量低的，对于CID检测器因为采取了预曝光，所以根本就不存在什么谱线溢出问题；
　3、中阶梯光栅的分辨率确实存在随着波长的红移而原来越差的情况，但现在的仪器已经可以做到在280nm附近分辨率为0.002nm了，这样即使到了K的灵敏线，分辨率也不会特别差，而且在此光学区域谱线本身就很少；

　　不错我们在进行元素的定量分析时第一个要保证的就是分析结果的准确性，但这并不等于分析速度不重要，当你每天要测数百个样品中多种元素的含量时可能就会体会到其中的真谛了。
　　

0.003nm的也没有，PE上的0.003指的是像素分辨率，因此采用CCD的ICP的分辨率和采用PMT的分辨率大家看指标的时候要看清楚了。我们常用来评价的分辨率应该是实际光谱分辨率的。而像素分辨率要换算成实际光谱分辨率的话，抱歉我不会，不知是不是采用像素分辨率乘以检测一条谱线需要的像素数？？？