原文由 firesoul119(firesoul119) 发表:原文由 毒菇九剑(sshlxf) 发表:原文由 firesoul119(firesoul119) 发表:
我倒是觉得你的样品才是影响你定量结果的主要因素,有的样品用EDS做怎么也做不准,有的就很准。总的说来如果想用能谱得到好的定量结果,样品的要求是致密、平整、稳定、导电良好。例如金属、合金、陶瓷、玻璃、地质等样品是非常适合用能谱定量的,如果结合好的标样,定量结果会超出你的想象。
如果你用已知成份的样品来检验能谱的定量结果,那样品成份一定要均匀,有条件最好使用专用的标样来验证。所以你说的均质化合物是粉末状还是块状就很重要,如果是粉末状,压平可以改进定量结果。
1. A 理由:如果样品不均匀,或是粉末,又想得到平均的定量结果,一定要在低倍下作,这样统计性更好。
2. B 理由:同样如果样品不均匀,选择一个面,统计性也好很多
3. 没有区别
4. A 理由:参照相关标准
5. B. 理由计数率越高,统计性越好
最后,跟你的观点相反,即使是同一物质,变才是硬道理,不变总是相对的。
非常感谢!楼上说明的非常详细!受教了!
1.平时我接收的样品各式各样的都有,对应的标样可以如何自己制作么?如何可以获得标样?一种样品对应一个标样的是么?
2.求以上''''''''4''''''''中提到的SEM测试标准,(一直凭自己的小小经验在做,是时候规范了,呵呵)多谢了!
3.''''''''5''''''''中的统计性更好是指 统计结果接近真值,置信区间更窄是么?
理由是计数率大,样本更大,所以...是么?
关于''''''''硬道理'''''''',我还是觉得 变化的都是误差.以上 请多多指教!
推荐一个网站给你http://microbeam.com.cn
这上面应该有你感兴趣的资料,包括测试标准,也可以联系标委会购买。
原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:原文由 firesoul119(firesoul119) 发表:
如题,例如同一均质化合物,在以下条件测,结果(元素及相对比例)一样么?
1. A.X30 B. X3000.
2. A. 点分析 B.面分析 C.MAP
3. A.SEI下 B. BEC下
4. A.垂直 B. 倾斜30度
5. A.1500 counts B.3000 counts
6. 其他的...
哪些条件下实际结果会有变化啊?其实如果是同一物质,不变才是硬道理啊!大家怎么看啊?多谢了!
只要牢记一点:试验条件有任何变化,都要重新最优化,但不支持试样倾斜。系统自带的标样数据要在水平状态下使用。
原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:原文由 firesoul119(firesoul119) 发表:
如题,例如同一均质化合物,在以下条件测,结果(元素及相对比例)一样么?
1. A.X30 B. X3000.
2. A. 点分析 B.面分析 C.MAP
3. A.SEI下 B. BEC下
4. A.垂直 B. 倾斜30度
5. A.1500 counts B.3000 counts
6. 其他的...
哪些条件下实际结果会有变化啊?其实如果是同一物质,不变才是硬道理啊!大家怎么看啊?多谢了!
只要牢记一点:试验条件有任何变化,都要重新最优化,但不支持试样倾斜。系统自带的标样数据要在水平状态下使用。
所以专家告诫说,做定量分析要每两小时最优化一次。可见最优化对分析结果的正确性和一致性是至关重要的。