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中阶梯光栅分光的CCD检测系统,通常是采用1个像素点来完成1个数据点的采集
紫外可见分光光度计中,我们用到CCD作为检测器,那是单道的,对比PMT检测器来说,信号检测能力就很贫乏,相差2个数量级以上!高端的紫外可见分光光度计都是PMT作为检测器,因为检出能力是最高原则。
中阶梯光栅的二维色散分光解决了宽波段的分辨率问题,但是无法回避信号采集的强度问题,所以PE 7000采用了一系列的方面来完善这个问题。
所以:无论是顺序读取或者是一次性读取,只能代表读取速度!
如果要得到好的信噪比,单点的数据采集时间是个很重要的参数了。
按照一楼表达的:如果在快速采集(直读)中不能得到有效的信号,不是被称作终极的全谱。
测试的目标是首先是获得有效的信号,所以没有全谱,直读是没有意义的!
你说的
紫外-可见分光光度计中已经采用了CCD作为检测器?不知是哪一家的产品?是什么型号的仪器?原子发射光谱用CCD作检测器进行扫描检测的好处是可以对谱线及其背景同时检测,紫外-可见吸收是连续光谱,看不出用CCD作检测器进行扫描检测还有多大好处。同时正是因为发射光谱是锐线光谱,谱线重叠非常严重,所以才采用高的衍射级次来提高色散率和分辨率,为了克服高级次的谱线重叠才采取了二维分光,所以会使得分析信号非常弱,对检测的灵敏度要求特别高,因此为了降低暗电流和噪音水平,一般都是工作在很低的温度条件下。你前面所说相对于PMT来说,CCD信号检测能力就很贫乏,相差2个数量级以上!不知从何而言,能提供一些有关数据和性能指标吗?依我个人来看,现在紫外-可见分光光度计不用CCD作为检测器,或极少采用CCD作为检测器,不是因为检测能力不行,而是成本原因,因为对一台档次不是特别高的紫外-可见仪器来说,一个CCD检测器的成本可以相当于n台的了!单道的CCD检测器在紫外可见分光光度计使用已经很多了,价格也很便宜,不要奇怪;可以到那个版面去看看;采用CCD的检测器,可以快速测试数据。
原子发射谱中用的是面阵的冷冻CCD检测器。
硅二极管的信号响应能力和PMT对比,可以参考很多的书籍,在紫外可见分光光度计上比较,一般硅二极管的测试能力可以到最多3ABS,而PMT可以到6-8ABS,所以这个2个数量级还是保守的。
至于说原子发射光谱仪采用CCD做检测器是可以对谱线和背景同时检测,我认为这不是目的,这是测试中的方法而已,在很多仪器上,可以选用dark off来实现这个功能。
其实在原子发射光谱中,采用CCD也是个很好的选择,可以提高测试速度。在二维色散的CCD使用中,可以提高一次测试的波长范围(速度)和分辨率,但是只能采用的是单点的像素来采集数据,这就是鱼和熊掌不可兼得。由于要求灵敏度,所以冷冻和很多的测试改进可以使用。
在CCD使用中,也有和一维经典分光匹配的CCD,是256的PIX来采集一个数据点;
而现在所谓全谱直读的二维色散分光系统的CCD呢,是1个PIX采集一个数据点;
抛开分光系统的差异,1和256的信号识别能力就体现出来了;
即使如此,仅仅考虑信号识别能力,还是推荐PMT,当然会牺牲测试速度;