主题：【求助】【原创】新型飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS)简介

聚苯乙烯会有哪些特征峰呢？
正离子：77，91，103，115，128，152，165，178等。为CnHm+碎片。
负离子则比较简单，碳原子数目大于6（72~75）之后，谱峰信号很弱了。

原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解，本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介，本附件主要介绍PHI公司的最新产品，nano-tof得宣传册，但是绝非广告。
国内有tof-sims 仪器的几个院所：

沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V，已经开始运行了，负责人好像是：代老师
矿业大学    phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了，负责人：梁老师
复旦大学  PHI 公司的, 负责人：李老师
天津飞斯卡尔，具体联系人不清楚
好像听过广东 还有一台PHI公司

我曾经接触过一些关于这面的资料，现在拿出来跟大家分享，希望大家有好的资料要一起分享。

飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物，又能测试无机物的一种检测仪器，其质谱的基本原理：
使用一次的离子源（Ga,Cs, O2, etc）轰击样品，产生二次离子，激发的二次离子被引入一个无场区(drift tube),自由飞行，飞行时间的长短，与离子的mass-to-charge ratio的二分之一此方成正比；也就是说，质量数越小的离子飞得越快，到达检测器的时间越短，反之，质量数越大的离子飞得越慢，到达检测器的时间越长，这样就可以实现质谱的分离。（未完待续）

广东，东莞，新科公司有一台。

原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解，本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介，本附件主要介绍PHI公司的最新产品，nano-tof得宣传册，但是绝非广告。
国内有tof-sims 仪器的几个院所：

沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V，已经开始运行了，负责人好像是：代老师
矿业大学    phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了，负责人：梁老师
复旦大学  PHI 公司的, 负责人：李老师
天津飞斯卡尔，具体联系人不清楚
好像听过广东 还有一台PHI公司

我曾经接触过一些关于这面的资料，现在拿出来跟大家分享，希望大家有好的资料要一起分享。

看来还是有一些人会用到SIMS啊

一张化合物的质谱图包含有很多的信息，根据使用者的要求，可以用来确定分子量、验证某种结构、确认某元素的存在，也可以用来对完全未知的化合物进行结构鉴定。对于不同的情况解释方法和侧重点不同。质谱图一般的解释步骤如下：

　 1，由质谱的高质量端确定分子离子峰，求出分子量，初步判断化合物类型及是否含有Cl、Br、S等元素。

　 2，根据分子离子峰的高分辨数据，给出化合物的组成式。

　 3，由组成式计算化合物的不饱和度，即确定化合物中环和双键的数目。不饱和度表示有机化合物的不饱和程度，计算不饱和度有助于判断化合物的结构。



　 4，研究高质量端离子峰。质谱高质量端离子峰是由分子离子失去碎片形成的。从分子离子失去的碎片，可以确定化合物中含有哪些取代基。常见的离子失去碎片的情况有：
M-15(CH3) 　　　　　　
M-17(OH，NH3) 　　　M-18(H2O)　
M-19(F) 　　　　　 　 M-26(C2H2)　
M-27(HCN，C2H3）　　 M-28(CO，C2H4)　
M-29(CHO，C2H5) 　　 M-30(NO)　　
M-31(CH2OH，OCH3)　 　M-32(S，CH3OH)
M-35(Cl) 　　　　　　 M-42(CH2CO，CH2N2)
M-43(CH3CO，C3H7) 　 　M-44(CO2，CS2)
M-45(OC2H5，COOH) 　 M-46(NO2，C2H5OH)
M-79(Br) M-16(O，NH2)　M-127(I)……
5， 研究低质量端离子峰，寻找不同化合物断裂后生成的特征离子和特征离子系列。例如，正构烷烃的特征离子系列为m/z15、29、43、57、71等，烷基苯的特征离子系列为m/z91、77、65、39等。根据特征离子系列可以推测化合物类型。



　6， 通过上述各方面的研究，提出化合物的结构单元。再根据化合物的分子量、分子式、样品来源、物理化学性质等，提出一种或几种最可能的结构。必要时，可根据红外和核磁数据得出最后结果。



　 7，验证所得结果。验证的方法有：将所得结构式按质谱断裂规律分解，看所得离子和所给未知物谱图是否一致；查该化合物的标准质谱图，看是否与未知谱图相同；寻找标样，做标样的质谱图，与未知物谱图比较等各种方法。

顶起来！！顶起来

多谢楼主热心的分享

原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
如何获得高分辨率的二次离子质谱图呢？
1。优化一次离子源的参数，尤其是脉冲的宽度
2。优化质谱仪参数，使二次离子角动量和能量最大化
3。检测器的时间分辨系统

高分辨有好几种模式，看要做什么。高质量分辨看同位素，高分辨率做mapping，高信噪比看低当量成份。

大家好，我是复旦大学的，我们实验室现在在做TOF-sims仪器的实验，用的离子源始氩离子源，样品是镀金的样品，我想问下大家，关于离子产率怎么计算？还有二次离子导通率怎么计算？谢谢各位达人指点，谢谢！

好牛叉啊  我这里只有 leco的gcxgc tof ms