获得0积分，您同时完成了每日任务，有额外的积分奖励，请前往APP领取
立即前往
名称 | 检测信号 | 样品 | 分辨率/nm | 基本应用 |
透射电子显微镜（TEM） | 透射电子和衍射电子 | 薄膜和复型膜 | 点分辨率0.3~0.5, 晶格分辨率0.1~0.2 | 1形貌分析：显微组织、晶体缺陷 2晶体结构分析； 3成分分析（配附件） |
扫描电子显微镜（SEM） | 二次电子、背散射电子、吸收电子 | 固体 | 6~10 | 1形貌分析：显微组织、断口形貌；2成分分析（配附件）； 3结构分析（配附件）； 4断裂过程动态研究 |
扫描隧道显微镜（STM） | 隧道电流 | 固体（有一定导电性） | 原子级 垂直0.01， 横向0.1 | 1表面形貌与结构：表面原子三维轮廓； 2表面力学行为、表面物理化学研究 |
原子力显微镜 （AFM） | 隧道电流 | 固体（导体、半导体、绝缘体） | 原子级 | 1表面形貌与结构分析； 2表面原子间力与表面力学性质的测定 |
场发射显微镜 （FEM） | 场发射电子 | 针尖状（电极） | 2 | 1晶面结构分析； 2晶面吸附、脱附和扩散等分析 |
场离子显微镜 （FIM） | 正离子 | 针尖状（电极） | 当尖半径为100nm时 室温0.55 低温0.15 | 1形貌分析：直接观察原子组态；2表面重构、扩散等分析 |
原文由 xgq_2001(xgq_2001) 发表:
名称
检测信号
样品
分辨率/nm
基本应用
透射电子显微镜（TEM）
透射电子和衍射电子
薄膜和复型膜
点分辨率0.3~0.5, 晶格分辨率0.1~0.2
1形貌分析：显微组织、晶体缺陷
2晶体结构分析；
3成分分析（配附件）扫描电子显微镜（SEM）
二次电子、背散射电子、吸收电子
固体
6~10
1形貌分析：显微组织、断口形貌；2成分分析（配附件）；
3结构分析（配附件）；
4断裂过程动态研究扫描隧道显微镜（STM）
隧道电流
固体（有一定导电性）
原子级
垂直0.01，
横向0.1
1表面形貌与结构：表面原子三维轮廓；
2表面力学行为、表面物理化学研究原子力显微镜
（AFM）
隧道电流
固体（导体、半导体、绝缘体）
原子级
1表面形貌与结构分析；
2表面原子间力与表面力学性质的测定场发射显微镜
（FEM）
场发射电子
针尖状（电极）
2
1晶面结构分析；
2晶面吸附、脱附和扩散等分析场离子显微镜
（FIM）
正离子
针尖状（电极）
当尖半径为100nm时
室温0.55
低温0.15
1形貌分析：直接观察原子组态；2表面重构、扩散等分析
我的社区
签到
赛默飞实验室产品焕新计划有奖调研！
【七月征文】不一YOUNG实验“猿”
报名开启：ICS2024第十三届光谱网络会议！
推荐收藏！盘点中药材及饮片检测解决方案
