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主题：【讨论】QP2010plus用scan和SIM扫出来的质谱图不一样

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tang1liang
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发表于：2010/10/29 13:11:59 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用岛津QP2010做PCB的检测，用scan模式扫的时候，所有的物质的质谱图与理论值是对应的，没问题。但是用SIM扫特征离子的时候，经常有些物质的质谱图显示，他们的特征离子并不是100%的，有些小碎片丰度更高。这是为什么啊。。。应该同样的物质没理由会改变特征离子的丰度吧。
条件都没有改变，只是扫描模式变了。。。
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2010/10/29 16:56:09 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
Scan和Sim扫描循环的次数不同，灵敏度不同
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tang1liang
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2010/10/29 17:25:13 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 似水年华(joyboy123) 发表:
Scan和Sim扫描循环的次数不同，灵敏度不同


那我同样是70eV的能量，打出来的碎片应该没有分别吧？如果我用SIM定量的话，我该用理论上的特征离子定量还是丰度最高的那个离子碎片定量呢？
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