原文由 yesky 发表:
我做的是复合材料
增强体和基体同时得到高分辨相的条件是什么啊?
两相相界面处, 两相晶粒取向同时踩正,而且对应的晶面间距大于电镜最小点分辨率。
另外,TEM的800k已经很高了,前面两位斑竹也说了。再高没有意义,而且倍数越高,视场越小,代表性越差。
在800k下要得到清晰的图像,要求外部环境特别好,稍微的震动都不行。同样的Brightness条件下,倍数越大,光越弱。曝光时间会长,像衬度也不好。这时调大Brightness的话,样品单位面积所受的"负载"(我觉得电子束打在样品上像子弹打过人体,呵呵)越大,样品damage自然很严重。说到这里,倒是想到有人利用这点,像陈江华就用电子束在样品上打出一个一个的洞来,说是可以做Aperture, 可以用来测量生物分子的尺度,好像发在nature上面。 彭立矛老师也用电子束原位加工纳米管,写成peng的字样,发表在电子显微学报上。
TEM的倍率与STEM(SEM)的倍率不同意义的,一般有十几倍的的差别,也就是说TEM 的400k 大致相当于STEM下的5M到6M,确定数值要校正才知。所以有一个叫
Super-SEM的电镜,说最大倍数能到200万倍,其实相当于TEM中的十几万倍。
所以你算一下就知道了,TEM的800k差不多相当于SEM的1000万 也就是说1个埃能放大到1mm,很大了。你想一想,你的电镜分辨率有多大??
一般,如果用底片的话,TEM中400K到500K已经足够了,我们通常用400k,400K看不到格子,倍数再大,照出来效果也不好。用ccd的话,还要看你是1Kx1K的还是2Kx2K的,因为分辨率好的ccd得到信息多,得到的照片还可以通过图像处理放大而不至于出现马赛克锯齿状。我喜欢用底片也是因为,底片得到的视场大,洗像的时候还可以放大。
以上均为个人体验。