前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!

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2005/12/23 16:46:00 板凳管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 jeolzxj 发表:
用ACB试试

呵呵,早已经试过,不管用的.

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jeolzxj

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2005/12/24 19:38:00 马扎管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

那就是电路有问题了，最好问厂家的工程师吧

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longzyyz

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2006/1/5 1:01:00 地毯管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

说的不是很详细啊！用背散射有时候会这样，能说说你的条件啊

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wdliu_1

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2006/1/24 10:22:00 地板管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 tongtianke 发表:
前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!

观察背散射像时应该是使用的另外的Contrast和Brightness调节键，你好好看以下操作面板，应该能找到。

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chenjianfeng

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2006/1/24 13:57:00 6楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

背散射电子的对比度要求很大,所以应该把对比度尽量加大,当然如果到90以上还不好用,则不排除BSE放大器有问题,这一路和SE放大器是不同的,所以两者有很大的差别.

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saintchen

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2006/1/24 14:07:00 7楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

二次电子和背散射一般使用的不是一个信号通道，如果你发现不管什么条件，任何样品，背散射像的CONTRAST钮都不灵，那可能就是背散射通道的CONTRAST的比较放大器出现问题了，可能就要找厂方工程师了。

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renxin

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2006/1/24 19:10:00 8楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 wdliu_1 发表:
原文由 tongtianke 发表:
前两天,发现用扫描电镜做块状固体的晶体型貌时,选用背散射电子,但是很难观察到"晶体"形貌,后检查发现,当使用背散射电子观察晶体形貌时,操作盘的CONTRAST控制键失效,BRIGHT控制键有效,当使用二次电子观察"表面"形貌时,两控制键都有效,这使得我们不能观察晶体形貌.请问各位有何解决办法?谢谢!

观察背散射像时应该是使用的另外的Contrast和Brightness调节键，你好好看以下操作面板，应该能找到。

同意， SE的 CONTRAST键调节的是光电倍增管的偏压， BRIGHTNESS键调节的是前置放大器， BSE如果是固体式的， CONTRAST键调节硅片的增益， BRIGHTNESS调节前置放大器。
所以应该是不同的按钮。

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