主题:【讨论】(参与有奖)大家讨论一下全反射X射线荧光光谱仪器的特点及独特设计

浏览0 回复19 电梯直达
金水楼台先得月
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原文由 291943731q(291943731q) 发表:
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原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
全反射能真正做到全部反射吗,这种仪器是不是对样品制取要求跟一般的制样要求严格?

样品制样的要求比较严格,最好是溶液或者悬浊液,滴在样品载片上,然后烘干,目的是在载片上形成均匀的一薄层待测的样品。如果样品厚度过大(大于几十微米),就失去了全反射工作的条件了。

请问,那是不是可以说全反射测试的条件就必须要对样品进行严格的钱处理并且厚度有严格的要求呢?

全反射制样一般制样简单,没有严格意义上的要求,主要满足平面和小角度,尽量满足减少散射等。


一般都用什么东西做载体呢。
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用样品厚度说明制样不是很确切,比如一整块固体方形平面样品同样可以测,几毫米或几厘米均可,看样品室大小。

样品室大小还不一样吗。
joe
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原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
全反射能真正做到全部反射吗,这种仪器是不是对样品制取要求跟一般的制样要求严格?

样品制样的要求比较严格,最好是溶液或者悬浊液,滴在样品载片上,然后烘干,目的是在载片上形成均匀的一薄层待测的样品。如果样品厚度过大(大于几十微米),就失去了全反射工作的条件了。

请问,那是不是可以说全反射测试的条件就必须要对样品进行严格的钱处理并且厚度有严格的要求呢?

全反射制样一般制样简单,没有严格意义上的要求,主要满足平面和小角度,尽量满足减少散射等。


一般都用什么东西做载体呢。

期待老师的回复,很专业啊。但似乎市场上没什么厂家卖哦,这是为什么呢?
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用样品厚度说明制样不是很确切,比如一整块固体方形平面样品同样可以测,几毫米或几厘米均可,看样品室大小。

样品室一般都是多大尺寸的?
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全反射能真正做到全部反射吗,这种仪器是不是对样品制取要求跟一般的制样要求严格?

样品制样的要求比较严格,最好是溶液或者悬浊液,滴在样品载片上,然后烘干,目的是在载片上形成均匀的一薄层待测的样品。如果样品厚度过大(大于几十微米),就失去了全反射工作的条件了。

请问,那是不是可以说全反射测试的条件就必须要对样品进行严格的钱处理并且厚度有严格的要求呢?

全反射制样一般制样简单,没有严格意义上的要求,主要满足平面和小角度,尽量满足减少散射等。


一般都用什么东西做载体呢。

期待老师的回复,很专业啊。但似乎市场上没什么厂家卖哦,这是为什么呢?

的确还没看到这类产品,如果有,有人介绍一下吗。
老虎呦
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全反射能真正做到全部反射吗,这种仪器是不是对样品制取要求跟一般的制样要求严格?

样品制样的要求比较严格,最好是溶液或者悬浊液,滴在样品载片上,然后烘干,目的是在载片上形成均匀的一薄层待测的样品。如果样品厚度过大(大于几十微米),就失去了全反射工作的条件了。

请问,那是不是可以说全反射测试的条件就必须要对样品进行严格的钱处理并且厚度有严格的要求呢?

全反射制样一般制样简单,没有严格意义上的要求,主要满足平面和小角度,尽量满足减少散射等。


一般都用什么东西做载体呢。


石英玻璃表面平整度(人/20)
老虎呦
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全反射能真正做到全部反射吗,这种仪器是不是对样品制取要求跟一般的制样要求严格?

样品制样的要求比较严格,最好是溶液或者悬浊液,滴在样品载片上,然后烘干,目的是在载片上形成均匀的一薄层待测的样品。如果样品厚度过大(大于几十微米),就失去了全反射工作的条件了。

请问,那是不是可以说全反射测试的条件就必须要对样品进行严格的钱处理并且厚度有严格的要求呢?

全反射制样一般制样简单,没有严格意义上的要求,主要满足平面和小角度,尽量满足减少散射等。


一般都用什么东西做载体呢。

期待老师的回复,很专业啊。但似乎市场上没什么厂家卖哦,这是为什么呢?

的确还没看到这类产品,如果有,有人介绍一下吗。


有啊,搜全反射...................
2002-xp
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huanghaiyan0904
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Bruker -德国布鲁克全反射XRF  黄工-联系电话:18221083873
全反射X射线荧光(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术
TXRF:它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、准确度高(可用内标法)、简便、快速,而且可进行无损分析,成为一种不可替代的全新的元素分析方法。
国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会;该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X射线荧光光谱仪范围内,能谱仪(EXRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差
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