原文由 pengshaolin(pengshaolin) 发表:
三者区别于样品测试精度,价格、都是X-射线激发样品。
原文由 hsteel(hsteel) 发表:原文由 pengshaolin(pengshaolin) 发表:
三者区别于样品测试精度,价格、都是X-射线激发样品。
在做仪器分析时,对含量进行定量的时候,往往用测试精确度来表示,X射线荧光光谱仪用精度表示是合适的,因为XRF就是对样品中元素进行定量的。
而XRD,最基本的功能是物相分析,并且仍然以鉴别物相为主,定量这几年发展起来,但定量的准确度不同的使用者有不同的说法,并且XRD近些年来已经不单单是物相分析,拓展的有小角X射线散射,薄膜分析,织构以及残余应力等等,也就无所谓精度不精度了。
XPS主要是做材料表面元素的价态分析,似乎定量并不是主要的。
并不是每台仪器的主要功能都是在元素定量上的。
原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:原文由 ljzllj(ljzllj) 发表:原文由 bennaiyou(bennaiyou) 发表:
貌似我们常见的XRF,XRD,XRS?
共同点:
(1) 属原子发射光谱的范畴;
(2) 涉及到元素内层电子;
(3) 以X-射线为激发源;
(4) 可用于固体表层或薄层分析
XPS涉及的不是内层电子。
XPS和XRF,XRD的分析表层深度相差很远。一个是纳米级,其它两个是微米到毫米级。
XPS做价态分析,XRF做元素成分分析,XRD做物相分析。
XPS不是内层电子,那是?
XPS分析分析 表层深度是纳米级?