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主题：【求助】硅行业 icp-ms 测硅

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sillic
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发表于：2011/07/04 14:15:43 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
公司有台安捷伦7700 ，安捷伦的工程师说只能用标准加入法测硅，我问过有色院等其他单位，一般都采用内标法。
现在也很纠结，这两种方法哪种更适合，样品检测纯度一般为5N-6N。

有做过这方面检测的，给点意见。大家多交流
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abcdefghijkl123
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2011/7/4 15:04:12 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
用ICP-MS法测硅干扰大，检测限高
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光哥
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2011/7/6 19:49:52 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
看情况呗，用标准加入法的同时也可以用内标来校正阿，没必要特别分开吧。
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nps
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2011/8/26 17:22:45 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼主这是要测硅中的杂质含量？个人的意见是用标准加入法，样品处理过程硅很难赶尽的，硅的基体效应对各个元素的影响不太一样，靠内标元素校正很难...
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highspeed_v
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2011/9/2 9:50:50 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼上的说的没错  你应该是测硅中的杂质吧？ 肯定是标加的方法
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