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主题：【求助】ICP-MS测硅

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duansuyue
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发表于：2011/08/30 22:42:11 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
请问各位专家及技术人员，有没有好的用ICP-MS测定二氧化锗中杂质硅的含量的分析方法，请您推荐一下
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a_lei82
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2011/8/31 20:15:17 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
呵呵，硅这个元素真没测过
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popo
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2011/9/4 12:04:14 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
二氧化锗好像可以用盐酸溶解。
之后上MS测定Si就好了啊
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oyyp86462
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2011/11/16 18:34:38 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个真没测过，好像硅标不好做啊
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luocejob
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2011/11/21 12:38:08 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
ICP-MS测硅背景值较高，对于低含量不好测定。据说可以用反应气，但效果也不明显。可以提高RF功率试试看
该帖子作者被版主 jieqian1211加 4积分， 2经验，加分理由：讨论
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duansuyue
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2012/2/1 22:48:18 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
谢谢大家帮助
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