原文由 njalvin(njalvin) 发表:
看书时有几句话不理解。
1,为什么探测器面积愈小,分辨率愈好?
2,面积固定情况下,时间常数增加,光子测量量得更准,相应的分辨率也更好,为什么?
求高手指点下!
不胜感激!
原文由 njalvin(njalvin) 发表:
看书时有几句话不理解。
1,为什么探测器面积愈小,分辨率愈好?
2,面积固定情况下,时间常数增加,光子测量量得更准,相应的分辨率也更好,为什么?
求高手指点下!
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原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:原文由 njalvin(njalvin) 发表:
看书时有几句话不理解。
1,为什么探测器面积愈小,分辨率愈好?
2,面积固定情况下,时间常数增加,光子测量量得更准,相应的分辨率也更好,为什么?
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个人理解时间常数增加,则指数衰减越平缓,对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值,而对于数字多道检测技术来说,梯形成型后,梯形的平顶部分更平滑,从而提高了检测精度,自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率,在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现,这样造成的后果就是死时间会急剧上升。
原文由 金水楼台先得月(albert800922) 发表:原文由 p_nicholas(p_nicholas) 发表:原文由 njalvin(njalvin) 发表:
看书时有几句话不理解。
1,为什么探测器面积愈小,分辨率愈好?
2,面积固定情况下,时间常数增加,光子测量量得更准,相应的分辨率也更好,为什么?
求高手指点下!
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个人理解时间常数增加,则指数衰减越平缓,对于模拟多道来说更容易精确的找到峰值,而对于数字多道检测技术来说,梯形成型后,梯形的平顶部分更平滑,从而提高了检测精度,自然分辨率也会更好。当然为了得到更好的分辨率,在数字多道检测技术中可以选择增加梯形成型时间来实现,这样造成的后果就是死时间会急剧上升。
检测精度好,分辨率就好,可以这样理解不/?
原文由 zbb1982(zbb1982) 发表:原文由 njalvin(njalvin) 发表:
看书时有几句话不理解。
1,为什么探测器面积愈小,分辨率愈好?
2,面积固定情况下,时间常数增加,光子测量量得更准,相应的分辨率也更好,为什么?
求高手指点下!
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1,没有探测器面积越小,分辨率越好的说法,在探测器里Si-pin的探测器是这样,应该是面积大了工艺上的问题,在SDD探测器分辨率就和面积没有关系了,只能说探测器面积越大,需要制冷的面积就越大,需要的制冷电流就大,本身的发热量也比较高。
2,X荧光测试结果的波动大小和测试的记数率有关,记数率越高测试波动就越小,因为X荧光是单位时间内的随机触发时间,测试时间越长,统计涨落越小,测试结果更稳定,但是和分辨率没有关系。分辨率只和探头的种类和电路的参数设计有关。
不知道楼主看的那本书,能否介绍下。