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主题：【求助】火焰法氘灯扣背景，会像塞曼扣背景的扣“过头”的情况吗？

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发表于：2011/10/01 16:57:44 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
火焰法氘灯扣背景，会像塞曼扣背景的扣“过头”的情况吗？

昨天，刚听一老师说这个问题，真是弄不明白。
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夕阳
anping
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2011/10/1 17:22:24 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼主指的：“扣过头”是否指的就是“背景校正过度”的意思？
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ldgfive
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2011/10/1 18:09:52 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
氘灯扣背景方式没有这种情况
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悠旸
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2011/10/1 21:20:21 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
我认为跟样品情况有关，跟样品前处理有关，若机体过于复杂氘灯扣背景也可能存在背景校正过度的情况。
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夕阳
anping
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2011/10/1 22:26:30 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
在样品的吸收峰中，存在一种称为临近谱线的干扰信号，它距离吸收谱线很近，如果使用氘灯方式扣除背景，很容易误将这个临近谱线作为背景来扣除，结果造成背景校正过度的误差。下面就是在氘灯扣除背景方式下，正常和异常的图例：


这是正常校正时的状况


临近谱线造成的校正过度现象
该帖子作者被版主 tianyamingye加 2积分， 2经验，加分理由：应助
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liu999999
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2011/10/3 7:42:21 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
以前还真没有听说过这种情况
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shrimp
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2014/10/17 10:33:05 6楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 夕阳(anping) 发表:
在样品的吸收峰中，存在一种称为临近谱线的干扰信号，它距离吸收谱线很近，如果使用氘灯方式扣除背景，很容易误将这个临近谱线作为背景来扣除，结果造成背景校正过度的误差。下面就是在氘灯扣除背景方式下，正常和异常的图例：


这是正常校正时的状况




临近谱线造成的校正过度现象


这个图解释的太好了，一目了然。谢谢
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2014/10/17 10:33:06 7楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 夕阳(anping) 发表:
在样品的吸收峰中，存在一种称为临近谱线的干扰信号，它距离吸收谱线很近，如果使用氘灯方式扣除背景，很容易误将这个临近谱线作为背景来扣除，结果造成背景校正过度的误差。下面就是在氘灯扣除背景方式下，正常和异常的图例：


这是正常校正时的状况




临近谱线造成的校正过度现象


这个图解释的太好了，一目了然。谢谢
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2014/10/17 10:41:50 8楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
安老师，邻近吸收谱线是样品基质还是其他共存元素引起的？如果把狭缝宽度受窄点不就可以避开邻近吸收谱线了吗？
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夕阳
anping
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2014/10/17 11:01:12 9楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 shrimp(shrimp) 发表:
安老师，邻近吸收谱线是样品基质还是其他共存元素引起的？如果把狭缝宽度受窄点不就可以避开邻近吸收谱线了吗？


临近谱线的产生与样品的基质和共存物均有关。

一个谱线的半峰宽只有0.0005nm；而且两个相邻峰的距离有的只有0.00X~0.0Xnm之宽；可是狭缝的宽度最小只有0.2nm；所以仅仅通过减小狭缝的宽度是不能彻底阻挡住干扰峰的。
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2014/10/17 11:56:04 10楼 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
原文由 夕阳(anping) 发表:
原文由 shrimp(shrimp) 发表:
安老师，邻近吸收谱线是样品基质还是其他共存元素引起的？如果把狭缝宽度受窄点不就可以避开邻近吸收谱线了吗？


临近谱线的产生与样品的基质和共存物均有关。

一个谱线的半峰宽只有0.0005nm；而且两个相邻峰的距离有的只有0.00X~0.0Xnm之宽；可是狭缝的宽度最小只有0.2nm；所以仅仅通过减小狭缝的宽度是不能彻底阻挡住干扰峰的。


哦，了解了。

还有一个小白的问题，这些0.x纳米的可变狭缝是怎么实现的，机械狭缝做不到这么窄吧，是通过卷积算法吗？
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