主题:【求助】DM里怎么quantify已经退卷积的EELS spectrum?

浏览0 回复12 电梯直达
alcestis
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我有core loss的谱,(O k edge),然后用zero loss 和low loss谱退卷积,所以必须先去除core loss谱的背底。这样处理完后,我得到的仅有edge intensity的core loss谱。这个时候,DM里怎么直接计算intensity呢?常用的那个quantification 选项,自动强制扣背底。但我的谱已经没有背底了。。。
有人知道怎么处理吗?还是我必须自己手动intergrate?
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蓝莓口香糖
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用Fourier ratio方法解卷积不一定非要先扣背底,那只是一种建议,也不见得总是好用。就算先扣了背底,你处理的时候再扣一遍问题也不大。背底的形状决定于你扣背底的窗口和位置,选得合适,背底基本是0,相当于糊弄程序一下。你确定没有不用背底的选项?
alcestis
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Fourier ratio方法必须先扣背底啊。 “In contrast to the Fourier-Log technique, you must subtract the background intensity before deconvolution.” william 书 2009版 732页

因为退卷积之后,noise变大,所以edge之前就是比较明显的noise,但quantification的background model 没有可以fit noise的啊。如果把背底窗口减为0,就给不出edge signal。我也没找到不用背底的选项。
蓝莓口香糖
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书里是这么写,其实EELS数据处理很多地方是要看实际结果的。先扣背底也没问题,你把噪音当背底去扣试一试,能得到一条近似水平的线不就行了?
alcestis
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用什么模型可以把噪音模拟好,以至于你可以得到一条近似水平的线呢?反正quantification里现成的模型 power-law等等肯定不行。
蓝莓口香糖
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DM里面的EELS定量其实是不支持fourier ratio方法的,所以如果你的谱不是从零峰开始的连续谱,没必要先自己做解卷积。当然你想做也可以,那到了定量这一步就只能凑合着扣背底了。如果解卷积的时候扣了背底,那么定量的时候开始部分的计数在0上下浮动,利用这一段应该能再次拟合出来一个接近0的背底。两个y值相等的点用一个幂函数拟合,得到的不就是个水平线嘛,所以从数学上这是可行的。可用的模型也并不只有幂函数,你可以试试其它的函数形式。反正现在扣背底只是走个形式罢了。
alcestis
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你说我自己拟合,是说自己用其他软件?那这样的话,就是自己手动了,包括之后自己积分edge下面的面积。在eels的quantification里显然不行。它提供的几个函数都给不出零背底。其实扣背底是走个形式,我只是想dm能帮我积分峰的面积,不用那么麻烦再导出数据到其他地方。

还有“你的谱不是从零峰开始的连续谱,没必要先自己做解卷积”,这个不懂什么意思。做解卷积是为了去除multiple scattering的影响,和我的谱是不是从零峰开始有什么关系?
蓝莓口香糖
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没有让你自己动手拟合,只是给你举个例子。DM里面选窗口,选函数其实不就是为拟合做准备?只是计算过程是软件来完成罢了。得到一个绝对的零背底不太可能,我只是建议你通过选择合适的拟合参数找一个可以接受的,接近零的背底。
你可能没有仔细看帮助文件。对于完整谱和部分谱,DM定量功能内部采用的计算公式是不同的。实际上,这个程序根本不考虑部分谱在定量时多重散射的干扰,也不考虑在这种情况下对原始数据做解卷积。这就是我那句话的意思。好比你开的车是夏利,但是你按照法拉利的标准使用和保养发动机,效果怎么样还真无法预料。
另外,DM的定量功能是为了得到绝对元素含量设计的,如果只是关心峰面积,没必要这么做。按普通数据处理把背底扣掉,然后选一个窗口,使用分析菜单里的统计功能就可以了。
alcestis
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最后一段提醒我了,可以直接用统计功能。谢谢!
不过,我还是觉得quantification里面的函数不可能拟合零背底,因为它提供的函数就是用来拟合单调下降的背底的。你可以试一下。
我没做过完整普的定量,但还是觉得你那句话不通啊。确实,quantification程序不考虑多重散射的干扰,所以对于部分谱的定量,才需要自己做解卷积,这是我理解的。
蓝莓口香糖
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我再次说明一下,我不是让你拟合出一个绝对是零的背底(虽然这在数学上可行的)。只要它接近零,比较平缓就可以了。使用幂函数拟合,得到的背底不一定都是单调下降的,也有可能出现上升的背底,这完全决定于拟合窗口的选择。既然连上升的都能出现,得到一个接近水平的自然也不奇怪。
定量程序不是完全不考虑多重散射的影响,对于完整谱,它含有解卷积过程。只是对于部分谱,它不做解卷积处理。这种情况下,它使用的定量公式含有一定的近似。在这种近似下,低能部分对电离峰的影响由卷积退化成相乘,在计算相对含量的时候就约分掉了。你想自己多做一步解卷积当然可以,只是要多扣一次假背底骗DM一下。你应该认真看一下DM的帮助文件以及其中引用的文献。
alcestis
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背底部分,你说的理论上当然可行。但实际在quantification程序里貌似无法完成(我没找到可以改变具体参数的地方,就只有几种函数类型可选)。我尝试了不行,或许你有时间可以试一下?如果证明可行,也很有帮助。
关于部分谱定量程序的细节,不是我这帖子主要想问的问题。不过还是感谢你的解答!
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