我在作高分辨的分析时候,老板就明确的告诉我底下的标尺5nm不一定校准的好,而且容易受其他因素的影响导致不准确. 我最近都在作ZnSe的nanobelt和nanoring,单从SAED来说,可以作一个shadow imaging,不过这个提到要用场发射的电镜.另外一种方法在Yong Ding的一篇文章里提到,大致步骤:1)BF image with in-focus condition 2)coverge the beam, and underfocus the objective lens 3) take pics ,and the spot parallel to the belt is the growth direction. (fit for belt) 如果是高分辨,一般选用有二维结构像的,可以FFT,相应的衍射斑的长度和互相之间的角度可以知道,这样去对d值.由于5nm标尺不准这样试验测得的d和X卡片的值有一定的差距,但是基本上所以的d值都会差差不多的,而且之间的角度是准确的,可以和理论计算对比. 我第一次开始分析就是拿着dm软件在图像上去量,老板说了我一顿说根本没有意义.
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