主题:【讨论】弱弱的问关于ATR的几个问题,求高手指教!

浏览0 回复15 电梯直达
sharonlingling
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1. 做红外ATR时,对样品有没有要求?样品面积要不要大于晶体面的面积?
2. ATR附件能不能长期放置在仪器上面?还是做完了取下来比较好?
3. 做完了样品,要不要对谱图做高级ATR校正?做好一点还是不做好呢?
本人刚接触NICOLET IS10不久,有很多不会的,甚是迷惑。。。希望从这里得到各位大侠的指教,不胜感激!
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不知道你的是一次衰减还是多次衰减的装置。按我的理解,使用多次ATR时样品面积应该大于晶体面积,比如薄膜或固体粉末。因为入射光线是在晶体上多次反射后来采集样品信息,然后进入检测器的,如果样品面积小了有可能某部分没有样品造成采集的信号不准。
红外仪器最怕潮湿,有的附件装进去后样品室的盖子就不能盖严了,如果你的附件体积小能盖严应该是没什么问题的。
至于谱图校正,还是要具体问题具体分析吧。这个我就说不太好了。
个人拙见。
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tangtang
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happyalife
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楼主做过ATR校正么,校正前和校正后谱图有什么区别
longxinhubao
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ATR校正得知道入射角、晶体材质、反射次数以及样品的折射率;而且感觉校正完的谱图毛刺会比原始谱图多;如果不是跟其他方法的谱图对比,不校正更好些。
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cxiaochun
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我们也经常使用ATR附近做样品:
我觉的:
1、做ATR时样品要尽量覆盖住或者压在晶体上,因为它的折射只有晶体表面的10um厚度,最好大于晶体表面;还有样品的折射率与晶体的折射率相差越大做的图也越好。
2、这个问题我也有点纠结,不过我感觉还是取下来比较好些;因为原因之一是原附件内有放置干燥剂,对仪器会更好些;但是这样经常性的装装卸卸我有点担心会不会对接触口不好。
3、做完ATR样品,我们一般都会做一下高级ATR校正,这个还是有必要的,否则有些峰会差别好多,对分析会有影响;还有,ATR样品高频区变弱,低频区变强,这也需要校正。
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2011/12/30 15:07:11 Last edit by cxiaochun
fyrebecca
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1.样品最好大于晶体面积,有的时候是样品接触面积大,信号强一些,有的时候是有些ATR压样品的本身就是有机物质,如果接触到晶体面,就会有吸收,会干扰要测量的物质
2.如果仪器房间能保证非常干燥,那么可以长期存放。否则潮湿的空气会从一些地方涔进仪器内部
3.我一般不校正,因为自己一般能够判断。如果是为了更好与数据库比较,那就校正一下。
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happyalife
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fyrebecca
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原文由 happyalife(happyalife) 发表:
这个校正和积分一样么?


什么积分?
校正无非就是因为ATR出的谱图中高波数位置吸收偏弱, 低波数偏强,这主要是因为红外光在高波数位置渗透深度浅,低波数渗透深度强
happyalife
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原文由 happyalife(happyalife) 发表:
这个校正和积分一样么?


什么积分?
校正无非就是因为ATR出的谱图中高波数位置吸收偏弱, 低波数偏强,这主要是因为红外光在高波数位置渗透深度浅,低波数渗透深度强

明白了,谢谢,另外我也说错了,是导数,应该是微分,都是谱图处理的一些方法
zwyu
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简单ATR校正这些参数都不需要的。完全ATR校正才需要,但比较鸡肋,一般不用。

同意如果不直接和透射光谱来比,就不必做ATR校正。

原文由 longxinhubao(longxinhubao) 发表:
ATR校正得知道入射角、晶体材质、反射次数以及样品的折射率;而且感觉校正完的谱图毛刺会比原始谱图多;如果不是跟其他方法的谱图对比,不校正更好些。
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