主题:【已应助】安捷伦ICP-OES IEC元素间干扰校正系数

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yiqizhao
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各位,谁应用过安捷伦ICP-OES 的IEC元素间干扰校正系数这项功能啊?能讲讲吗?
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悠旸
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没有亲自用过,不过看过一些资料。
IEC是用于校正直接的光谱重叠,使用一个干扰的校正因子对每个分析进行浓度校正。在设置IEC前需要知道是什么干扰,测定干扰IEC 是基于背景校正点上,并且它假设干扰与浓度是线性关系,从而应用系数来校正。
悠旸
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不过个人觉得还是通过机体匹配和选择无干扰谱线更简单易行。
yiqizhao
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我看仪器里的方法要先用分析元素做标准曲线,然后在用干扰元素做标准曲线,然后再用分析元素做标准曲线,我不明白这三条曲线在测试时分别起什么作用,您有这方面的资料吗?
玉米馒头
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我的想法和2楼基本一致;只是有一点需要补充一下,使用IEC的话需要同时测定各干扰元素的浓度,干扰元素的浓度往往比较高(远远超出日常分析所用工作曲线的线性范围),数据可能测不准,在校正因子绝对值较大的情况下对校正效果有影响;稀释的话,如果待测元素灵敏度不高则又是一个问题。
使用干扰元素做标准曲线是为了量化干扰元素对待测元素的干扰,楼主确定还有第三步么?PE的IEC也就是前两步...
yiqizhao
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确定,我用的是安捷伦的ICP-OES,前两步我理解,就是第三步不理解
doraemon
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dddfug
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原文由 yiqizhao(yiqizhao) 发表:

确定,我用的是安捷伦的ICP-OES,前两步我理解,就是第三步不理解


我是这么理解的,前两步是为了得到IEC因子,而第三步就更平时做样一样,需要打曲线,不过这时它已经用IEC因子计算过了!!!
syy00000000
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原文由 doraemon(doraemon) 发表:
没用过,但个人感觉FACT比IEC好用,也简单。


你好!做FACT模型时,待测元素的浓度选多大的?干扰元素的浓度选多大的?比如土壤中Fe对Cu的干扰,要多大浓度的Fe和Cu啊?需要一样大么?请各位前辈告之。。。谢谢
abcpgf
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