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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】X荧光检出铝合金Mg、Si元素有差别

浏览0 回复4 电梯直达
19栋
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发表于：2012/02/29 08:15:37 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
大家好，我们的设备是岛津XRF-1800，检验AlSi10MgCu（原材料）时，Mg是0.32.Si是11.79，而我用光电直读时，Mg是0.35，Si是  10.10，请问这个为什么会有不同呢，我们也知道应该出哪个结果啊 （Mg：0.35-0.45，Si;9.0-11.0)
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2012/2/29 15:05:38 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
两种方法之间会存在误差，误差较大时，是否考虑标准曲线，制样问题
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XRF_INFO
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2012/2/29 22:37:58 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
应该考虑重新建立校准曲线，标样表面要处理好，并且平。
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liupanpan_ccut
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2012/3/1 8:11:47 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
建立校准曲线，能说的具体点么，我有点不是很明白
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alexright
alexright
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2012/3/5 16:15:52 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
看标准样品。制样没有问题的话，X荧光应该好一些。
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