原文由 alwaysfly(alwaysfly) 发表:
好像是电子干扰的原因 过去在国外的资料上看过 由于设备本身的原因 相对于金刚石抛光粉来说 使用碳导电胶带进行制样,由于原子具有相近(相同)的电子能(对电子的束缚力),能够更好的显示金刚石的表征,而使用抛光态的金属片金相干燥制样,由于金属片的原子的电子能远低于金刚石,拍照过程中金属片的成像将大大的干扰到金刚石的成像。 具体的说不清了 好久没看书了
原文由 vega(vega) 发表:原文由 alwaysfly(alwaysfly) 发表:
好像是电子干扰的原因 过去在国外的资料上看过 由于设备本身的原因 相对于金刚石抛光粉来说 使用碳导电胶带进行制样,由于原子具有相近(相同)的电子能(对电子的束缚力),能够更好的显示金刚石的表征,而使用抛光态的金属片金相干燥制样,由于金属片的原子的电子能远低于金刚石,拍照过程中金属片的成像将大大的干扰到金刚石的成像。 具体的说不清了 好久没看书了
我讲漏了条件:"细的金刚石微粉(大概3-5微米)滴导电碳胶带上,拍出来的图片细金刚石微粉较粗颗粒颜色亮、白"这种情况我是用二次电子探头拍的;“而细金刚石微粉滴在抛光的金属块(铜块)上,拍出来的图片细粉较粗粉颗粒边缘模糊。”这种情况我是用背散电子探头拍的。