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主题：【求助】如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度

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zrl1708
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发表于：2012/03/09 23:22:36 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
小弟见一篇文献提到是用基体中大的析出相的条纹来测样品的厚度,小弟不是很懂,请问大家有谁用过或者看过这个方面的,求指教. 曾经想用CBED,但是对于统计析出相的单位个数来说工作量是实在是太大. 望各位大侠予以指教,不胜感激!
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2012/3/11 9:15:08 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
你说的是等候条纹吧？ 消光长度 乘以 条纹数目 来粗略判断厚度？
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洪星二锅头
coime
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2012/3/11 18:48:34 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
建立lz去看看黄孝瑛的电子衬度分析原理与图谱

具体的分析方法如下
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手机版： 如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度
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