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X射线荧光光谱仪（XRF）

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主题：【求助】X荧光高含量样品如何稀释

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zhangjiancn

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2012/4/7 23:17:23 12楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:
X荧光光谱分析中遇到高含量样品怎么办？还想用X荧光做如何稀释呢？？求教各位达人

如果采用粉末压片法，可以考虑+入铅、钡等重吸收剂，以此降低其强度，如果用熔融法就简单了。

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2012/4/7 23:22:01 13楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:
是测Nb Ta 的几个样品，先做了个半定量，有一个样品半定量的结果都到了30%，我是用土壤标准做的曲线，最高一点才是Nb 300ppm Ta 573ppm。测了好几回高含量的Nb Ta ，Nb还可以，Ta 低含量和高含量的曲线斜率都不一样，郁闷的很，求教各位。。。

你的样品是啥基体的？可能与标准样品不一致造成的吧？

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zhangjiancn

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2012/4/7 23:25:29 14楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:
原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
你不应该稀释呀，高含量才能测准呀，你需要改变分析曲线测量范围，就是人工+入的方式，千万不能用土壤等不同基体的曲线分析，会有很大的误差的。

曲线里是要加入纯物质的标样吗？样品也是土壤按说与曲线标准基体相仿，只是含量太高，超出曲线最高点很多了

我劝你，首先采用熔融法，对生产样品进行定值，然后用其作为校准样品来建立压片的工作曲线来分析生产样品，这样就克服了矿物及粒度效应。

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2012/4/9 16:35:17 15楼管理分享倒序浏览只看楼主回复私聊

原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
原文由 i_0i_0i_0(i_0i_0i_0) 发表:
原文由 zhangjiancn(zhangjiancn) 发表:
你不应该稀释呀，高含量才能测准呀，你需要改变分析曲线测量范围，就是人工+入的方式，千万不能用土壤等不同基体的曲线分析，会有很大的误差的。

曲线里是要加入纯物质的标样吗？样品也是土壤按说与曲线标准基体相仿，只是含量太高，超出曲线最高点很多了

我劝你，首先采用熔融法，对生产样品进行定值，然后用其作为校准样品来建立压片的工作曲线来分析生产样品，这样就克服了矿物及粒度效应。

多谢指教

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