【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区
主讲人:zhangjiancn XRF版面版主
活动时间:2012年4月04日——2012年4月18日
我们热烈欢迎zhangjiancn老师光临X荧光光谱版面进行讲座!
导言:
X 射线荧光分析技术(XRF)作为一种快速分析手段,为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的,检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径;相对于其他分析方法(如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等),XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势,特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。
那么,在X荧光光谱仪的分析应用当中,存在着哪些检测分析方面的误区呢?我们有请zhangjiancn专家详细到来,更欢迎同行版友到版面交流学习、切磋探讨,共同进步!目录:1、关于X荧光光谱分析特点2、灵活应用3、方法对仪器的影响4、样品对仪器的影响5、那种压片精度高?6、不要忘记基体校正7、熔融要灵活
提问时间:2012年4月04日--4月18日
答疑时间: 2012年4月04日--4月18日
特邀佳宾:数据处理版面的版主以及从事此行业的专家
参与人员:仪器论坛全体注册用户
活动细则:1、请大家就X荧光光谱分析应用遇到的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2012年4月18日
2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励
3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :
zhangjiancn老师您好!我有以下问题想请教,
请问:……
说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。
虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归zhangjiancn和仪器信息网所有。
本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。