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原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:原文由 asahi42(asahi42) 发表:
LZ您用的是JSM的7600F还是Zeiss的？几家的定义和结构不一样的，无法统一回答。
谢谢回复。我的是Zeiss的。
原文由 asahi42(asahi42) 发表:原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:原文由 asahi42(asahi42) 发表:
LZ您用的是JSM的7600F还是Zeiss的？几家的定义和结构不一样的，无法统一回答。
谢谢回复。我的是Zeiss的。
噢，呵呵，Zeiss的In lens是一个镜筒内光轴上的二次电子探头，在Beam Booster开启的前提下工作，主要用于成高分辨的二次电子像；SE1是镜筒外的二次电子探头，用于成常规二次电子像；BSE是镜筒内光轴上的背散射电子探头，同样在Beam Booster开启的前提下工作，用于成样品表面背散射电子像。LZ您的机器是Ultra级别的吧~？
原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:
谢谢您的回复。懂了。不过是不是在用In lens的时候需要把加速电压调低一点？我感觉同样看一个金属表面，10kv的In lens表面细节就失去很多了~
btw，仪器我也不是很懂。应该是Leo 1530VP。本科小孩，平时只能玩玩钨灯丝，FEG上手机会不多~
另外JEOL对inlens怎么定义的呢？
谢谢！
原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:
谢谢您的回复。懂了。不过是不是在用In lens的时候需要把加速电压调低一点？我感觉同样看一个金属表面，10kv的In lens表面细节就失去很多了~
btw，仪器我也不是很懂。应该是Leo 1530VP。本科小孩，平时只能玩玩钨灯丝，FEG上手机会不多~
另外JEOL对inlens怎么定义的呢？
谢谢！原文由 asahi42(asahi42) 发表:原文由 ssssss0527(ssssss0527) 发表:原文由 asahi42(asahi42) 发表:
LZ您用的是JSM的7600F还是Zeiss的？几家的定义和结构不一样的，无法统一回答。
谢谢回复。我的是Zeiss的。
噢，呵呵，Zeiss的In lens是一个镜筒内光轴上的二次电子探头，在Beam Booster开启的前提下工作，主要用于成高分辨的二次电子像；SE1是镜筒外的二次电子探头，用于成常规二次电子像；BSE是镜筒内光轴上的背散射电子探头，同样在Beam Booster开启的前提下工作，用于成样品表面背散射电子像。LZ您的机器是Ultra级别的吧~？
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谢谢您的回复。懂了。不过是不是在用In lens的时候需要把加速电压调低一点？我感觉同样看一个金属表面，10kv的In lens表面细节就失去很多了~
btw，仪器我也不是很懂。应该是Leo 1530VP。本科小孩，平时只能玩玩钨灯丝，FEG上手机会不多~
另外JEOL对inlens怎么定义的呢？
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LZ您用的是JSM的7600F还是Zeiss的？几家的定义和结构不一样的，无法统一回答。
谢谢回复。我的是Zeiss的。
噢，呵呵，Zeiss的In lens是一个镜筒内光轴上的二次电子探头，在Beam Booster开启的前提下工作，主要用于成高分辨的二次电子像；SE1是镜筒外的二次电子探头，用于成常规二次电子像；BSE是镜筒内光轴上的背散射电子探头，同样在Beam Booster开启的前提下工作，用于成样品表面背散射电子像。LZ您的机器是Ultra级别的吧~？
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