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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】怎么用XRF来测定薄镀层的成分？

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zhonglee2000
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发表于：2012/11/20 19:02:23 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
公司用的是fischer的XRF，通常用来测定镀层厚度；请问可以用来分析在纯铜上面镀的Ni-P的P含量吗？难处在于镀层只有 2 - 3 微米。真心求教，感谢！
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sonne86400
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2012/11/21 9:22:37 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
找厂家直接请教的哦 随机会有软件配置的哦
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里海
lihaijun
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2012/11/22 14:11:34 板凳 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
应该可以吧，不然怎么测量厚度呢，厚度也是通过含量和密度等数据推算的
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enuo
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2012/12/2 22:56:49 马扎 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
基本参数法：厚度和成分同时测定。
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2012/12/3 9:04:46 地毯 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
楼上说得对，不过这还要看仪器配置如何，若用的是正比计数器则一般不长于成分分析，若用的是半导体解析器则能同时用于成分分析。
不过17号元素（Cl）之前的轻元素X荧光光谱仪是很难测的。
所以不管是fischer还是其他品牌的XRF都是不能测化学镍镀层中的P的。
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mgy
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2012/12/3 17:44:54 地板 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
镀层厚度测量使用X荧光是可以的，具体使用波长色散还是能量色散要看镀层的元素是什么，你所说的纯铜上面镀的Ni-P的话，应该采用波长色散X荧光，可以测量镀层的厚度以及镀层中Ni、P的含量。
可以使用镀层分析软件，但是会有误差，最好能够自己作出几块“标准样品”校正软件系数，这样准确度会大大提高。
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