原文由 sky2400 发表:
我也是一知半解,就我知道的简单说说吧。
XRF是x射线荧光检测的方法,分WDXRF和EDXERF(谁来解释一下WD和ED的区别)。
所需样品需要均质,就是物理粉碎方法粉碎到最小的单位,而不破坏它的化学成分。均质材料(如一块塑料)直接测就行,非均质材料(如一块电路板)需要研磨再压片。所以说样品前处理不用ICP那么麻烦。相应的检测仪器只能检测总含量,就是说,Hg,Cd,Pb的检测不受影响,但Cr,Rr只能检测总量,而不管价态和实际化学组成,所以在这方面是无法替代ICP的。检测速度很快,十来分钟吧。操作也简单。检出线很低,几个ppm,并不是象某些人说的那么差,当然上限是有的,大约1000ppm。
目前欧洲的检测是XRF,ICP,UV几种方法相结合,抽查。我想XRF测HgCdPb合适,ICP测PBB/PBDE,UV分析六价Cr,都是可以定量分析的。
现在国内对XRF认识不够,不是其技术不行,而是没有推广开。抛砖引玉,期待大牛补充,我是新手,说得不对的地方请指证,多谢啦。