主题：【求助】EDX 线扫描 问题

原文由 小M(mitchell_dyzy) 发表:
你的图横坐标没有单位，文献图扫的是2μm的宽度；你的图纵坐标不知道表示什么量，如果是cps，那么数据量太小了，最大值才不到两百

原文由 毒菇九剑(sshlxf) 发表:
文献的很容易做啊 有什么难的？

原文由 gegeyc88(v2675311) 发表:

原文由 hxing(hxing) 发表:
大家好！ 有没有人用 EDX 线扫描 CIGS（Cu（In，Ga）Se2）横断面的 成分变化呀，我做了一个 EDX线扫描，但是结果和文献报道  严重不符，请熟知这方面的 同学帮忙 给些建议，谢谢！
下面一幅图是我得到的EDX 先扫描结果：



下面一幅图是 文献中报道的EDX 线扫描，为什么差距不同呢，请高手看看，谢谢！



样品中有Cu  In  Ga  Se 四种元素，但四种元素的比例应该不同，但怎么会四种元素结果 都是 类似的呢？怎样才能得到 和 文献中 报道 的 EDX 线扫 一致的 谱线呢，求 帮助！3Q！

  貌似文献中的是经过类似Origin等处理过的图标，你那个是EDS自带的软件的原始数据，会有点区别的。

原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
你的材料成分与文献的材料成分不一样吧，文献中的材料成分Zn是基体成分，Cu In Ga Se 是另外一个相。你的材料没有Zn ，Cu In Ga Se 四种元素是均匀的一个相。所以我认为你的扫描结果也是正确的。前提是你的材料中没有Zn。如果你材料中也有Zn ，那就是扫描距离还要加长才能扫到基体Zn ，Cu In Ga Se 四种元素才能形成曲线分布。

原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:

原文由 hxing(hxing) 发表:

原文由 天黑请闭眼(shxie) 发表:

信号量很低,查一下EDS设定的线扫参数是否单点驻留时间偏短? 另外,检查你用的电压,束斑大小,样品截面所处的位置,倾斜角度,放大倍率等参数, 看是否能优化参数后再测试.

你好！谢谢你的回复。请问这方面有教程吗

抱歉,我也只是使用者,就自己经验说的,能谱教程似乎没有见到过.

原文由 hxing(hxing) 发表:

大家好！ 有没有人用 EDX 线扫描 CIGS（Cu（In，Ga）Se2）横断面的 成分变化呀，我做了一个 EDX线扫描，但是结果和文献报道  严重不符，请熟知这方面的 同学帮忙 给些建议，谢谢！
下面一幅图是我得到的EDX 先扫描结果：



下面一幅图是 文献中报道的EDX 线扫描，为什么差距不同呢，请高手看看，谢谢！



样品中有Cu  In  Ga  Se 四种元素，但四种元素的比例应该不同，但怎么会四种元素结果 都是 类似的呢？怎样才能得到 和 文献中 报道 的 EDX 线扫 一致的 谱线呢，求 帮助！3Q！

下面是 测试原始数据，请大家在不忙时 帮忙看看，谢啦！（数据见附件）

原文由 hxing(hxing) 发表:

原文由 fengyonghe(fengyonghe) 发表:
你的材料成分与文献的材料成分不一样吧，文献中的材料成分Zn是基体成分，Cu In Ga Se 是另外一个相。你的材料没有Zn ，Cu In Ga Se 四种元素是均匀的一个相。所以我认为你的扫描结果也是正确的。前提是你的材料中没有Zn。如果你材料中也有Zn ，那就是扫描距离还要加长才能扫到基体Zn ，Cu In Ga Se 四种元素才能形成曲线分布。

你好！文献中的 那个 图中的 Zn元素  因为有上层 薄膜中含有Zn， 然后渗入到 下层 中的。我的材料中不含Zn， 但是 Cu In Ga Se四中元素的 比例是不同的， 不应该是 那样一个分布的

原文由 毒菇九剑(sshlxf) 发表:

文献上是在一条线的方向上选了10个点，计算每个点不同元素的含量，然后建立的曲线。和你的线扫描是不一样的。