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ID:lglfa
行业:其他
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ID:cai008
ID:tang566
ID:ynsfeed
原文由 tang566(tang566) 发表:用PCBs的方法进两针空白,一般换方法进第一针空白不是很理想,后面进的就会好些。与上一次测的空白基线强度作下对比,相近,就不用老化。
原文由 快乐(ynsfeed) 发表:原文由 tang566(tang566) 发表:用PCBs的方法进两针空白,一般换方法进第一针空白不是很理想,后面进的就会好些。与上一次测的空白基线强度作下对比,相近,就不用老化。为什么换方法后,第一针不理想?
原文由 花开见我(cai008) 发表:先进一针空白看看情况
原文由 lglfa(lglfa) 发表:原文由 花开见我(cai008) 发表:先进一针空白看看情况你们一般都不用老化吧,老化的话貌似不能接MS检测器,还要拆柱子?
ID:jimzhu
原文由 lglfa(lglfa) 发表:原文由 tang566(tang566) 发表:用PCBs的方法进两针空白,一般换方法进第一针空白不是很理想,后面进的就会好些。与上一次测的空白基线强度作下对比,相近,就不用老化。老化的话要接检测器吗?还是要拆开把柱子的另一端赌上?