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ID:v2796535
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原文由 质谱菜鸟(v2796535) 发表:我是今年钢接触ICP-MS 所以对基本的理论还不是太懂 在书上看到这样一段话“不管用什么方式一旦光子到达检测器,那就要极大地增加质谱仪的背景噪声,导致检测限变差” 想问一下 为什么光子进入检测器会使得检测限变差,背景噪声变大
原文由 timstoICPMS(timstoICPMS) 发表:原文由 质谱菜鸟(v2796535) 发表:我是今年钢接触ICP-MS 所以对基本的理论还不是太懂 在书上看到这样一段话“不管用什么方式一旦光子到达检测器,那就要极大地增加质谱仪的背景噪声,导致检测限变差” 想问一下 为什么光子进入检测器会使得检测限变差,背景噪声变大不管是正离子还是光子,一旦打在检测器上,就会有信号响应,所以增加背景噪声。
原文由 质谱菜鸟(v2796535) 发表:为什么会使检出限变差?