主题：【已应助】ICP干扰问题

原文由 sasha(540019326qq) 发表:

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元素之间的干扰，基体之间的干扰。

的确。。。。

像我们矿物样品，2种干扰都存在，所以都要考虑。

我觉得基体的干扰用计量学的方法不能实现，而元素的干扰还是可以实现的

具体分享一下啊！

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元素之间的干扰，基体之间的干扰。

的确。。。。

像我们矿物样品，2种干扰都存在，所以都要考虑。

我觉得基体的干扰用计量学的方法不能实现，而元素的干扰还是可以实现的

基体干扰我们采用内标法消除，元素干扰采用IEC消除。

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元素之间的干扰，基体之间的干扰。

的确。。。。

像我们矿物样品，2种干扰都存在，所以都要考虑。

我觉得基体的干扰用计量学的方法不能实现，而元素的干扰还是可以实现的

基体干扰我们采用内标法消除，元素干扰采用IEC消除。

个人觉得类似于MSF和IEC的方法，还有有局限。。。。毕竟谱峰点数太少，背景太大。。。。。。。。。

原文由m2902277发表：

原文由依风1986发表:

原文由m2902277发表：

原文由依风1986发表:多选几条波长看看，如果还不行需要消除干扰，不同仪器软件是有得

如何操作，求指点？安捷伦ICP-OES720

您具体什么样品？720的也是有fact模式校正

铁轴，螺丝之类的

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元素之间的干扰，基体之间的干扰。

的确。。。。

像我们矿物样品，2种干扰都存在，所以都要考虑。

我觉得基体的干扰用计量学的方法不能实现，而元素的干扰还是可以实现的

基体干扰我们采用内标法消除，元素干扰采用IEC消除。

个人觉得类似于MSF和IEC的方法，还有有局限。。。。毕竟谱峰点数太少，背景太大。。。。。。。。。

原文由 missjay(missjay) 发表:

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元素之间的干扰，基体之间的干扰。

的确。。。。

像我们矿物样品，2种干扰都存在，所以都要考虑。

我觉得基体的干扰用计量学的方法不能实现，而元素的干扰还是可以实现的

基体干扰我们采用内标法消除，元素干扰采用IEC消除。

个人觉得类似于MSF和IEC的方法，还有有局限。。。。毕竟谱峰点数太少，背景太大。。。。。。。。。

PE可以多取些点数

原文由v2770168发表： 多选几条波长比对看看，不行就要先除去基体或者做个基体匹配，铜合金的话，可以采用电解除掉铜后再测试，其他基体还是做基体匹配比较好。

原文由m2902277发表：

原文由依风1986发表:

原文由m2902277发表：

原文由依风1986发表:多选几条波长看看，如果还不行需要消除干扰，不同仪器软件是有得

如何操作，求指点？安捷伦ICP-OES720

您具体什么样品？720的也是有fact模式校正

铁轴，螺丝之类的