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X射线荧光光谱仪（XRF）
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主题：【求助】如何判定2θ扫面图峰的强调太高、有严重的谱线重叠、信号太弱呢？

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envirend
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发表于：2014/10/15 08:24:45 楼主 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
      在建立曲线（土壤曲线）过程中，如果2θ扫面图峰的强调太高、有严重的谱线重叠、信号太弱等，可以修改仪器的测量条件，再扫描一个样品，作进一步优化实验。问题是选择哪个样品呢？
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2014/10/15 15:48:35 沙发 管理 分享 倒序浏览 只看楼主 回复 私聊
这个要根据自己的基体 做下优化 做到基体匹配 同时针对不同应用 不同元素选择干扰少的谱线做测量
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