原文由 范超(v2927350) 发表:
1.是的
2.不仅仅是,合成的方法不同,XRD的峰也不一样,自然不可能全部找到,基本上能找到几个三强峰就差不多了
3.某一个晶面高不高,看得到的XRD的强度比较靠谱,拍摄找到位置毕竟是随机的
不能,除非你看XRD峰强没怎么下降,不然怎么说明进到孔里了,而不是发生了什么化学反应变成了其他晶体,其他物质什么的
原文由 铁磁(v2968212) 发表:
1. 看你怎么扫的吧,比如说thin film什么的,你做Xrayθ-2θ scan看到的(0001)系列晶面,做TEM plan view看不到,cross section能看到,很可能不明显。还有如果一个晶体比如沿着【0001】生长,它内部可以有无数个绕着【0001】方向的旋转晶粒(通常旋转角度看晶体对称型)。XRD看到的可能是很完美的晶体,但TEM看到的条纹全是几个晶粒重叠的morie fringe。(XRD phi scan也能看到旋转晶粒) 其实具体比较复杂,我遇到的90%的情况都对不上。
2.HRTEM的图像其实是电子平面波经过规则排列的晶体首先在diffraction平面形成了diffraction pattern,然后这些diffraction spots相互作用(等同于傅里叶变换)最后形成图像。可以说,你在HRTEM看到的点,不一定是原子,其实是晶体的周期性格点;看到的条纹,不一定是晶面,只是是样品周期性的一个排列。任何周期性的缺陷,不同晶像的重叠,还有人为的超晶格都会引入对称性,并且在图像中有所反应。不要太信TEM看到的东西。
但是,最重要的是,TEM的图像如果不在晶轴上,不同的偏离会导致不同g vector更有优势,在图像中就会出现对应的晶面。
3.和面间距有关系,如果不考虑取向,不考虑在不在晶轴上的话。
多是(004)或(200)没看懂,但是但凡出现高指数面就要小心了,这两个面对应回去有没有真实的晶面?高指数面对应回真实的样品晶格中,对应的面很可能根本没有原子在,高指数面只是电子衍射的周期性展开而已。如果没有对应晶面,你看到的条纹多半是morie fringe。可能样品这个点要厚了,不同晶向重叠更多。。。
如果有对应面。。。
其实,TEM完全不能说明什么面暴露较多,你在拍TEM图片的时候可以扫尾旋转那么一点点,然后仍然能在晶轴上只是不完美,就会看到不同的面