我们的样品很多时候会遇到氯离子比较高的情况(一是来自于样品本体,二是来自于前处理方法),此时要在
ICP-MS上测定就存在较多的干扰。大家通常以As为例。
规避干扰的途径大体上有3个:
1. 改用ICP-AES等其它测定方式;(如果待测物含量足够高,同时不存在强烈光谱干扰,还因为As在ICP-AES上灵敏度相对较低)
2. 稀释;(也需要待测物浓度较高。因为氯离子的干扰是复合离子,所以稀释的效果很明显)
3. 基体匹配或者编辑干扰方程。(基体匹配难?很难。特别是对于
ICP-MS,还需要考虑盐分;编辑干扰方程?怎样来保证氯离子水平在各样品和标准溶液中大体相当?先跑一遍IC?样品能不能达到IC的进样要求?想想都头大了吧?)
上面3个途径类似于“被动式”;
那么“主动式”途径呢?
1. KED或者DRC模式。(比较有效。当然,灵敏度的牺牲也比较明显)
2. 化学沉淀去除Cl-。(是不是只有AgNO3可用?)
亲们,可有其它更好的法子?
(此为新手贴,赚积分用。 :-D)