主题:【第十届原创】银饰品表面镀层分析

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银饰品表面镀层分析

黄成(南京质检NQI)



      银饰品由于其款式丰富,克服了其它贵重珠宝首饰高价格的缺点,价格适中,能够紧跟流行时尚,款式精美,精工细作,受到越来越多的消费者的欢迎。但由于银是一种比较活泼的贵金属,在空气中极易氧化变色,因而越来越多的银饰品通过对其表面进行处理,来达到缓解其氧化变色的目的。

      目前,为了使银饰品表面呈现的光泽比纯银饰品更光亮,拥有更好的反光效果,在佩戴过程中不易氧化,通常会采用电镀的方法在其表面镀上一层金属镀层。本文主要通过化学分析,对表面含有镀层的银饰品进行破坏性检测,分析其镀层的主要成分。
      在对样品进行破坏性检测之前,先通过X射线荧光光谱法定性分析样品成分,如图一所示。从图一中可以看出,通过X射线荧光光谱法,可以很明显的看到该样品中含有锑(Sb)的荧光光谱,说明样品中含有锑,但X射线荧光光谱法并不能够明确表明锑是最后电镀在纯银的表面,还是存在于纯银中。通过查阅资料,在所有的银矿中,硫锑银矿又称“深红银矿”,常见于铅锌银热液矿床中,往往为热液过程最后形成的矿物,是炼银的矿物原料之一。这说明,存在含锑的银矿,而在银料提纯过程中,是否会发生锑并没有完全被分离,仍有微量的锑存在?

      在实验室中,通过对大量银饰品的分析过程中,经常能够发现银饰品中含有锑,为了进一步判断锑是电镀在纯银饰品的表面,起增加银饰品的光亮度,防止其氧化的作用,还是银料中本身就含有的。而在对其成品进行破坏性分析的过程中,并不能准确判断出锑的存在位置。本文通过同一类银饰品的成品和半成品的进行化学检测对比,简单说明了锑的存在位置。
      按照GB/T 21198.5的标准流程,对改银饰品的成品和半成品进行处理,并通过电感耦合等离子体光谱仪进行分析,得到该银饰品的分析数据。图二和图三是该银饰品的成品与半成品的ICP-AES分析数据图。从图二中可以看出,在对成品样品进行ICP分析时,和空白试样进行对比,样品能够明显的检测出锑,存在很明显的峰强度。而再对半成品样品进行分析时,和空白试样进行对比,并没有峰强度。图二和图三的分析结果表明,锑(Sb)是在饰品加工完成后,再在表面电镀上的,其目的是增加其银饰品的表面光亮度、防止其氧化。


      最后,通过对该类银饰品的成品和半成品的进行分析,可以简单判断出锑(Sb)是在半成品的加工完成后,电镀在其表面上,增加银饰品的表面光亮度,防止其在佩戴过程中被氧化,大大提高了银饰品的美观程度和实用程度。
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感谢老师科普,半成品属于来料测试,文章内容可以更详细点,穿插一些仪器参数,测试方法,仪器分析等细节东西,效果可能会更好!
千层峰
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999youran
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表面含有Sb ,应该属于不合格品了吧,XRF分别测试表面和基材成分也可以确认Sb大致来自哪里。
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原文由 千层峰(jxyan) 发表:
用的ICP是热电哪一款??
  ICP型号:icap 7000 series
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原文由 JOE HUI(xurunjiao5339) 发表:
感谢老师科普,半成品属于来料测试,文章内容可以更详细点,穿插一些仪器参数,测试方法,仪器分析等细节东西,效果可能会更好!
谢谢!
T108012
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原文由 999youran(999youran) 发表:
表面含有Sb ,应该属于不合格品了吧,XRF分别测试表面和基材成分也可以确认Sb大致来自哪里。
样品只是表面镀了Sb,不能说明就是不合格品了吧。XRF在测试过程中,成品和半成品之间的区别不如ICP直接明显,故而在对其位置的判断过程中选择用ICP的方法更稳妥。
七月
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原文由 T108012(T108012) 发表:
样品只是表面镀了Sb,不能说明就是不合格品了吧。XRF在测试过程中,成品和半成品之间的区别不如ICP直接明显,故而在对其位置的判断过程中选择用ICP的方法更稳妥。
XRF应该优于ICP,ICP方法涉及到取样,镀层很薄,能够刮下多上镀层来做测试。XRF是针对表面的分析,应该能明显识别成品表层和半成品表层的差异。
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