原文由 renzhihai 发表:
ICP-OES的干扰消除方法有三种:一种是基体匹配,一种是加内标,一种是数学校正。大家在分析测试过程中往往只采用了其中的一种,但是个人通过实践发现,如果能将其中的两种联合使用效果会更好。大家是否有同感?
1、基体匹配操作容易,但有些特殊样品,很难进行基体匹配,这是困扰所在。
2、加内标,可以有效控制仪器的漂移与一定的干扰。但现在的仪器漂移都很小,内表起到的作用不知道有多大。
3、标准加入法可以起到一定作用,但操作过于麻烦,对于每天有很多试样测定的人来说,无疑十不可行的。
4、数学校正方法很多,有的是利用分峰,有的是利用最小二乘法等。达到的效果也是不同的。
对待一些数据的处理有很多种方法,算起来有12种之多,不知道把这些算法应用到原子光谱中,会怎样。用于icp中,可能cid监测器的仪器比较容易实现。