主题：【第十二届原创】ICP-MS使用经验案例分享

电感耦合等离子体质谱仪使用经验案例分享
使用ICP-MS已经有两年了，在这两年里，一次安装培训，一次外派培训，其余全靠自己摸索，现将这两年来遇到的问题以及解决过程分享下，与同行共勉，也欢迎交流指正。
案例一、雾化器堵塞
现象与分析过程
正常进样过程中，内标的回收率在80%-120%左右。一次实验中从走第5个样品开始，内标回收率就逐渐降低，到第10个样品时只有1%左右了。经过咨询工程师，说是雾化器堵了，于是就熄火后拆卸PFA雾化器，先用洗耳球吹吸数次，用10%硝酸溶液浸泡过夜，期间还尝试用头发丝捅了，看似已经疏通。可能是头发较硬导致雾化器里面极细的同心管被捅破。
解决方案
1. 在进有沉淀或者悬浊液的样品时，一定要过滤后或静置再进样。也可以用0.45μm水系滤膜过滤；
2. 堵塞的雾化器最好是浸泡10%硝酸溶液，或者直接倒吸水溶液进行清堵。
3. 雾化器不插入雾化室，吸纯水，打开雾化气流速，查看其雾化效果。
经验总结
此次雾化器堵塞是由进样过程吸入絮状或沉淀物而引起，由于疏通过程不当导致雾化器被捅破，因此特别提醒雾化器不能使用坚硬东西捅，头发也不行。另外，石英材质的雾化器千万不能超声。
案例二、点或失败
现象与分析过程
仪器执行点火程序，点火成功，KED模式下调谐59Co强度只有1500左右，然后发现等离子体火焰闪烁抖动较为厉害。咨询工程师后熄火，关机，等待10分钟重启仪器，尝试点火，结果提示错误“Plasma could not be lit”，再咨询工程师，可能是矩管、中心管有积液。自己先动手拆卸了进样系统，发现果然矩管、中心管有积液，而且在矩管壁上有一段头发（这头发是怎么进去的），将积液倒出，将头发清洗干净，再吹干，装上，点火一次成功。
解决方案
1. 实验前一定要检查进样系统吸液与排液是否正常；
2. 点火之前打开冷却气流速2min，使矩管充分干燥，点火会顺利些。
经验总结
矩管、中心管有积液，是因为雾化室排液不畅而导致，实验前一定要检查进样系统吸液排液是否正常。如排液不正常会使雾化室里的水冲上矩管，而使矩管积液，进而导致点火失败。
案例三、污染问题
现象与分析过程
在仪器STD模式下，纯水中209Bi响应值有10000cps，5%硝酸空白溶液响应值高达5*10的7次方以上cps，分析原因应该是前一天走样，内标浓度太高，没有清洗完全（1000ppb 209Bi响应值有10的8次方cps）。通过清洗后，纯水中209Bi响应值降至2000cps左右，5%硝酸空白溶液响应值也降至1*10的7 次方cps，但是空白溶液依然很高。
解决方案
1. 将进样系统，雾化器、雾化室、管路全部拆洗，双锥也超声清洗；
2.测试完样品，先用5%硝酸溶液清洗5min，然后用纯水清洗10min以上，最后空转排空管道残余纯水；
3. 标准中推荐内标浓度为1000ppb，太高，应适当降低内标浓度。
经验总结
排除仪器污染来源步骤：在点着火状态下，先关闭Slide Valve，观察监控元素的响应值（排除真空室与检测器的污染）；打开Slide Valve，接着将雾化器流速调为0，再观察监控元素的响应值（排除锥、矩管、雾化器、雾化室）；雾化器流速调为正常，将泵速调为0，继续观察监控元素的响应值（排除进样管路以及水）。
案例四、风量传感器积灰
现象与分析过程
在一次实验过程中，点火不成功，提示风压不正常。由于ICP-MS点火必须要求风压在0.4-0.7mbar，否则点不着火。查找原因，首先看是否是通排风系统有故障，其次看仪器上方的风阀是否开启，如都没有问题，则是仪器的风量传感器积灰导致风压显示不正常。
解决方案
1. 将仪器外壳拆下，找到风量传感器，使用洗耳球或者接上氩气管路吹扫；
2. 注意放置仪器房间的洁净度，仪器不使用时关闭实验室排风，以减少灰尘的聚集。
经验总结
由于实验室通排风系统的设计原因，全部实验室共用，在上班期间关闭排风不太能实现，因此要时刻关注风压情况，定期清理风量传感器上的积灰。另外，在加班情况下，需设置实验室通排风系统定时启停时间。
案例五、矩管未归位而强行拉开腔门
现象与分析过程
临近下班，匆匆忙忙地在运行完所有序列，关闭仪器过程中，仪器自动运行关闭程序，期间需要对矩管、锥进行冷却至室温，而这需要2分钟左右的时间。而在很着急的情况下，矩管未归位时，拉开腔体门（犯二的操作，也不知道当时是手贱还是什么缘故而打开腔门），导致矩管被锥口拉碎。
解决方案
1. 等待冷却时间，待运行至standby状态时才能有下步动作；
2. 观察视窗软件，实时了解仪器动态。
经验总结
矩管是石英材质，易碎，因此在其使用时尤其要注意，观察仪器状态，时刻关注电脑软件上的提示信息。
案例六、检测数据差异分析
现象与分析过程
在测定某食品样品中总砷含量时，发现使用原子荧光光谱法与ICP-MS测定的结果差异较大，而在测定其他类样品中总砷时几乎无差异。通过ICPMS工程师的分析有可能是质谱的双电荷干扰，150Sm干扰75As；原子荧光光谱法方面则分析可能是酸基质导致。
解决方案
1.质谱双电荷干扰的确认与验证。通过测定Sm对As的干扰程度，使用校正方程来扣除；
2. 原子荧光光谱法则是通过更换酸基质来验证；
3. 通过送样去外检单位检测（包括仪器厂家）来对比分析。
经验总结
质谱中氧化物或者多原子干扰可以使用碰撞模式（KED）来消除，而双电荷干扰很难去除。因此，在调谐时严格控制双电荷的产率（3%以内），再者使用干扰校正方程来扣除。另外，在使用原子荧光光谱法时，不同酸基体定容样品，尤其是在遇到高含量砷的样品，使用硫酸与混合酸相结合的湿法消解进行更准确，这也是食品安全国家标准5009.11为什么没有更改消解方法的原因。