主题:【第十二届原创】云?X荧光光谱法的下一个增长点? Cloud + XRF, The next step forward

浏览0 回复19 电梯直达
deer
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X荧光可以,其它仪器也可以吧,实验室可以将各种数据汇总统一分析
仗剑少年游
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原文由 deer(lujun710711) 发表:
X荧光可以,其它仪器也可以吧,实验室可以将各种数据汇总统一分析
ICP我没想好怎么弄,XRF有其特殊性。
水清鱼读月
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
有前提,镀层金属成分与基材成分没有重合(实际上可能不会,但是从严谨的角度要考虑这种可能)
仗剑老师,不锈钢镀镍了解一下 ^_^,还有不锈钢镀镍镀金。
水清鱼读月
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:
好长的回复,不知道是哪位大神。
我这些年越来越觉得数学真是基础的基础。
化学的发现离不开物理,而物理领域的各种验证得依仗数学。
你读读他的nickname
仗剑少年游
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原文由 水清鱼读月(loaferfdu) 发表:
仗剑老师,不锈钢镀镍了解一下 ^_^,还有不锈钢镀镍镀金。


幸亏我说的是可能,涨学问了。

所以这种算法能解决么?
水清鱼读月
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原文由 AK-47(冲)(scott-vip) 发表:
楼上两位老师,我的意思是说部分金属材料表面带有金属镀层,想知道底材的结果,XRF目前有什么控制吗?


最好的做法是把镀层去掉,腐蚀掉,或者磨掉,然后直接测试底材。

理论上,在镀层或者涂层不太厚的时候,也可以使用薄膜FP法同时定出镀层和基材的元素成分。XRF的很多公式推导都默认样品是“无限厚”的块体材料,薄膜显然不是无限厚,对吧?

但这个整体来说还不是太成熟,准确度不是那么高,只能依赖无标样FP法。XRF要做到准确定量,和ICP、AA等仪器一样,需要标准样品的支持,这与你使用经验系数法还是FP法无关。目前我还没有见到用于您这种需求的标样,这需要成系列不同含量配方的基材并且镀有不同含量配比以及不同厚度镀层的标准样品。目前涉及到镀层的大都还是不同厚度的标准样品。改变基材的配比或者镀层元素配比的很少很少。虽然实际中,FP法有所谓的单点FP法,就是用一个标样也可以校正仪器内藏的系数,但是成套的系列标样显然会得到更靠谱的结果。
水清鱼读月
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原文由 仗剑少年游(yue_qiu) 发表:

幸亏我说的是可能,涨学问了。

所以这种算法能解决么?


理论上可以解决的,就是把基材的主成分提前输入进去。基材的主成分可以通过腐蚀掉镀层后,使用XRF或者ICP测试出来。

举个例子,SUS304不锈钢镀Ni。不锈钢已经有很好的金属光泽和防锈效果,通常是不镀什么东西的。镀镍通常为焊接考虑。

SUS304的主要成分是FeCrNi,Ni的含量在6-10%左右。镀Ni后,仪器测试的Ni信号,由基材的Ni和镀层的Ni分别贡献,这两个能量是一样的。仪器其实无法区分NiKa荧光到底来自于哪里。薄膜FP法可以把FeCrNi的含量分别输入基材,然后软件会计算出基材中的Ni信号在穿透Ni镀层后还剩余多少强度。反复迭代就可以得到镀层的厚度了。

这里的前提是必须要输入Ni含量,否则软件就把Ni信号全部归入镀层去了。不好的消息是,在实际应用中,我们往往只能知道不锈钢的牌号,所谓牌号,对应的元素含量都是有范围的,就是你无法知道确切的含量。好消息是,我发现输入8%和输入10%,最后计算出来的Ni镀层厚度差不了多少。哈哈
水清鱼读月
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ICDD啊、ICSD等数据库提供商觉得你的想法很赞,以后这么做盗版就绝迹了,哈哈。

不过数据的保密性是个要求,谁来提供稳定的网络连接以及大量的计算也是个需要考虑的成本问题。单个机器FP法的运算量或者Rietveld精修对于现在的电脑来说运算量还不算太大,但是当全球几万台仪器发起计算请求的时候,这个运算量还是不小的。谁来提供算力?提供算力的云端、数据的传输、保密性都需要花钱,用户一合计,说不定会发现还是单机版更便宜,不需要每年掏钱去买这个云。
仗剑少年游
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原文由 水清鱼读月(loaferfdu) 发表:
ICDD啊、ICSD等数据库提供商觉得你的想法很赞,以后这么做盗版就绝迹了,哈哈。

不过数据的保密性是个要求,谁来提供稳定的网络连接以及大量的计算也是个需要考虑的成本问题。单个机器FP法的运算量或者Rietveld精修对于现在的电脑来说运算量还不算太大,但是当全球几万台仪器发起计算请求的时候,这个运算量还是不小的。谁来提供算力?提供算力的云端、数据的传输、保密性都需要花钱,用户一合计,说不定会发现还是单机版更便宜,不需要每年掏钱去买这个云。
不是云计算,是云端下载参数。
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