1.以反向塞曼效应(原子化器处)为前提:由于纵向恒定磁场在AAS无法得到应用,因此纵向只能用交变磁场,磁场关闭时测量原子和背景的吸收;磁场开启时只有σ成分的吸收,如π果频移足够大就没有原子的吸收只测量到背景衰减σ+(50):π(0):σ-(50);利用到塞曼效应的频移引起的σ成分频移和π消失的特点,将最大磁通量密度时测量的吸光度和关闭时的吸光度进行比较,不必使用偏振器只需差减即可达到背景校正的目的,因此纵向交变磁场辐射能损失较小;
2.横向交变磁场--磁场关闭时测量
原子吸收和背景衰减,磁场开启时用固定的只让偏振面垂直于磁场的偏振光通过的偏振器阻挡π成分而只测量非偏振化的背景衰减,并以此差减达到背景校正,存在辐射能量损失问题;
3.横向恒定磁场--是持久的分裂为π、σ+-,利用旋转偏振器,由于π与原频率相同,偏振器平行磁场时进行
原子吸收和非偏振化的背景衰减,当偏振器旋转至垂直磁场方向时π成分被阻挡而只测量非偏振化的背景衰减,为了测量各成分的强度比值,旋转偏振器通常采用滤光片或棱镜,由于自身材料特性恒定磁场中造成辐射能损失。
只要拥有良好的灵敏度、准确性和稳定性、耐用性(100年不坏)且价格、操作均能满足要求就是一台很好的仪器,校背方式并不是太重要。